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NTIS 바로가기한국광학회지 = Korean journal of optics and photonics, v.25 no.6, 2014년, pp.311 - 314
김영훈 (인하대학교 정보통신공학과) , 임해동 (인하대학교 정보통신공학과) , 오범환 (인하대학교 정보통신공학과)
In this paper, we design a helical fin structure for the heat sink for a high-power LED lighting module, and analyze its thermal properties. By means of the helical fin structure, we can obtain about 14% larger surface area for the limited volume and it can decrease the LED chip temperature by about...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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LED 광원의 히트싱크의 구조는? | 통상적인 방열 방식은 LED 칩 배면에 히트싱크를 부착하는 것으로써, 히트싱크의 구조는 판 또는 원통 등 목적에 맞는 구조로 형성된 몸체에 침상(針狀; needle shape) 또는 얇은 판상(板狀; plate) 등의 형태로 제작한 다수의 방열 핀을 압출 또는 접합으로 세워 형성한다. 하지만 이러한 기존 히트싱크 구조는 타 방열제품에 사용되던 형상을 그대로 본떠 만든 것이지, LED 광원의 특성에 최적화한 구조는 아니다. | |
LED 광원이란? | LED 광원은 반도체 소자로써, 전류 인가 시에 전자와 정공의 재결합을 통해 방출되는 에너지를 높은 효율로 직접 빛으로 변환한다. 이때 매우 좁은 부피영역에 국한되어 있는 활성층에서 비 발광 손실 에너지인 열 또한 방출하는데, 소형의 LED 소자에서 발생된 지속적인 고열은 소자의 수명을 단축시키며 열화현상으로 인한 조명 품질의 악영향과 광원의 광속효율도 감소시키게 된다. | |
LED 광원에서 활성층에서 발생하는 열의 문제점은? | LED 광원은 반도체 소자로써, 전류 인가 시에 전자와 정공의 재결합을 통해 방출되는 에너지를 높은 효율로 직접 빛으로 변환한다. 이때 매우 좁은 부피영역에 국한되어 있는 활성층에서 비 발광 손실 에너지인 열 또한 방출하는데, 소형의 LED 소자에서 발생된 지속적인 고열은 소자의 수명을 단축시키며 열화현상으로 인한 조명 품질의 악영향과 광원의 광속효율도 감소시키게 된다.[1-4] 따라서 LED 광원의 발열문제를 해결하기 위한 방열방식은 경제성이 높으면서도 활성 층에서 방출되는 빛을 방해하지 않아야 한다. |
Y. J. Kim, S. Kim, and G. Cho, "A study on heat radiation and luminous flux in led lamp," in Proc. The Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers Autumn Meeting (Nov. 2011), pp. 109-112.
C. Biber, "LED light emission as a function of thermal conditions," Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, Semi-Therm 2008, Twenty-fourth Annual IEEE, 180-184 (2008)
S. Chhajed, Y. Xi, Yh. Gessmann, J.-Q. Xi, J. M. Shah, J. K. Kim, and E. F. Schubert, "Junction temperature in light-emitting diodes assessed by different methods," Proc. SPIE 5739, Manufacturing, and Applications IX, 16 (2005).
ARPACI, KAO, SELAMET, Introduction to Heat Transfer (Prentice Hall, 2000), p. 91.
D. D. L. Chung, "Materials for thermal conduction," Applied Thermal Engineering 21, 1593-1605 (2001).
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