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NTIS 바로가기전기학회논문지. The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. P, v.63 no.2, 2014년, pp.95 - 101
박종찬 (오산대학교 전기시스템제어과) , 손진근 (가천대학교, 전기공학과)
In this paper, UPS, with a built-in instantaneous sag drop compensation features, was developed to improve performance. The improved UPS, using instantaneous moving average method, compensates by quickly measuring the voltage and series inverter of half-bridge type, using line-interactive method tha...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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전기품질의 변동에 대하여 민감한 이유는? | 급속한 산업의 발달로 인하여 전원의 외란에 민감한 전기적 부하설비가 증가하면서 전기품질에 대한 관심이 매우 증대되고 있다. 이렇게 전기품질의 변동에 대하여 민감한 이유는 전원외란이 발생할 경우에 경제적 피해가 매우 크기 때문이다. 이에 따라 선진 각국에서는 그 중요성을 인식하고 전기품질에 따른 수용가와 부하에 미치는 현황파악 및 다양한 연구를 시도 해 오고 있는 실정이다[1,2]. | |
전기품질의 문제로는 무엇이 있는가? | 전기품질의 문제로서는 주로 순간정전, 그리고 순시적인 전압강하(voltage sag)와 전압상승(swell) 등 대부분은 전압품질과 같은 의미로 사용되고 있으며 이는 수용가 설비의 가동정지(shut down)와 오동작을 일으킬 수 있기 때문에 생산활동의 경제성 저하에 영향을 줄 수 있는 인자이며, 순간정전 및 순시전압강하 문제가 가장 대표적이라 할 수 있다[3,4]. | |
순시적인 전압강하(voltage sag)와 전압상승 등의 문제에 대한 대책은? | 이러한 전압크기의 변동 문제에 대한 대책으로써는 무정전 전원장치(uninterruptible power supply, UPS)와 순시전압강하 보상장치 즉 동적전압보상장치(dynamic voltage restorer, DVR)의 전력기기가 주로 사용되고 있다. UPS는 주로 정전 시에 사용하는 전력기기로 배터리를 사용하게 되며 용량이 제한적이기 때문에 민감 부하와 같은 한정된 부하의 범위에서 사용되며 상시가동형(On-line 방식)과 필요시에만 동작하는 상시대기형(Off-line 방식)이 있다. |
Math H. J. Pollen, Understanding Power Quality Problems, IEEE Press, 1999.
Jin-Geun Shon, Hee-Jong Jeon, "Series Voltage Compensation Systems for Voltage Sag by Using an Environmentally Friendly Ultra-capacitor", Trans. KIEE. Vol. 58, No. 4, pp.763-769, APR. 2009.
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F. Botteron, H. Pinheiro "A Three-Phase UPS That Complies With the Standard IEC 62040-3", IEEE Trans. Ind. Electron., vol. 54, no. 4, pp.2120 - 2136, Aug. 2007.
R. Martinez and P. N. Enjeti, "A high-performance single-phase rectifier with input power factor correction", IEEE Trans. on PE, vol. II, no. 2, pp. 311-317, 1996,
R.M. Santos Filho, P.F. Seixas, P.C. Cortizo, LAB. Torres, and A. F.Souza, "Comparison of Three Single-Phase PLL Algorithms for UPS Applications," IEEE Trans. on Industrial Electronics, vol. 55, no. 8, pp.2923-2932, 2008.
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