다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기
전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.27 no.6, 2014년, pp.407 - 416
유형근 (서울과학기술대학교 산업정보시스템공학과) , 이강원 (서울과학기술대학교 산업정보시스템공학과)
AI-Helper
Five factors are identified, which affect the performance of optical filter: 1) type of optical glass, 2) existence of Fe, 3) photo pic coating type, 4) coating form, and 5) coating thickness. If we consider all the levels of five factors, there are 360 possible candidates. We determined five evalua...
| 핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
|---|---|---|
| 반도체 광학 필터는 어떤 대안으로 부각되고 있는가? | 반도체 광학 필터는 금융통장 정보 인식을 위해 기존에 사용되어온 기술 CIS (contact image sensor)나 CCD (charge coupled device), 그리고 광센서들에서 나타나는 여러 문제점 [1-7]들을 해결할 수 있는 새로운 대안으로 부각되고 있다. 가장 효율적이고 최적의 광학 필터를 구현하기 위해서는 먼저 금융 정보를 정확하게 인식할 수 있는 기술적 측면, 구현 방법, 단가, 제조 공정에서의 안정된 품질과 유지보수의 용이성 등을 고려해야 한다. | |
| 델파이 기법은 어떤 절차를 따르는가? | 최적의 반도체 광학 필터를 설계 구현하기 위한 성능 인자 도출을 위해 여러 차례의 전문가 회의를 통해 전문가들 사이에 합의된 의견을 이끌어내는 델파이 기법은 처음에는 구현 가능한 기술에 대한 전문가의 제안을 수집한 후 결과를 종합하여 참여한 전문가에게 판단을 다시 생각하도록 피드백을 주는 반복적인 절차를 따른다. 1라운드에서 제시한 견해를 수정하고 새로운 제안, 협의, 추가하는 델파이 과정에서 라운드의 회수는 최소 두 번에서 최대 다섯 번까지의 값을 갖는다 [8,9]. | |
| 금융 자동화기기에 탑재될 광학필터의 두께가 중요한 이유는? | 먼저 광센 서에서 발생된 660 nm 가시 광 파장을 난반사 없이 통과 시켜야 한다. 이때 두께가 너무 두꺼우면 광센서의 out focusing 영역이 달라져 White 상태의 전압 및 Black 상태의 전압 측정값이 불안정해진다. 그리고 가시광선 투과에 난반사가 많이 발생하고 투과 효율도 낮기 때문에 많은 오류가 발생한다. 반대로 두께가 너무 얇으면 절단면 주변 깨짐 (laser cutting side crumble) 불량이 발생하는 문제가 있다. 그리고 금융 자동화기기 양산 시 광학 필터 모듈을 결합하는 단계에서도 광학 필터가 깨지는 문제가 있다. |
B. H. Jeon, H. Y. Lee, Y. W. Lee, and H. G. Rhee, Korean Journal of Optical and Photonics, 19 (2008).
M. Hayama, IEEE Trans. Elec. Dev., 37, 1271 (1990).
M. Mochizuki, H. Hayashi, T. Chiba, and K. Fukuda, Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2008. SISPAD 2008. International Conference (Hakone, 2008). p. 369.
X. Zhao, A. Bermak, and F. Boussaid, Biomedical Circuits and Systems Conference, 2008. BioCAS 2008. IEEE (Baltimore, 2008). p. 145.
H. J. Kim, Journal of Korean Oil Chemist' Society, 22, 77 (2005).
S. W Kim, C. S Cho, J. W Nam, B. H Kim, and J. H. Lee, J. IEEK, 47SD (2010).
H. Kim, Physics & High Technology (2005).
H. K. Yu and K. W. Lee, J. KIMME, 27, 61 (2014).
N. R. Kim and S. J. Joo, KIISS, 18 (2013).
S. H. Park and J. W. Kim, Modern Experiments Design (Minyoungsa, Korea, 2011).
T. L. Satty, Int. J. Services Science, 1, 1 (2008).
K. H. Park, H. S. Song, and J. Y. Won, Management Science (Kyobo Book, Korea, 2013) p. 407-418.
H. K. Yu and K. W. Lee, J. KIMME, 27, 328 (2014).
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
오픈액세스 학술지에 출판된 논문
Copyright KISTI. All Rights Reserved.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.