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자유 곡면 형상 측정을 위한 백색광 주사 간섭계의 정확도 향상 및 시스템 오차 분석
Accuracy Improvement and Systematic Bias Analysis of Scanning White Light Interferometry for Free-form Surfaces Measurements 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.31 no.7, 2014년, pp.605 - 613  

김영식 (한국표준과학연구원 우주광학센터) ,  (노스캐롤라이나 대학교 물리) ,  이혁교 (한국표준과학연구원 우주광학센터)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Scanning white-light interferometry is an important measurement option for many surfaces. However, serious profile measurement errors can be present when measuring free-form surfaces being highly curved or tilted. When the object surface slope is not zero, the object and reference rays are no longer...

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문제 정의

  • 광학 수차로 인해 m 이 부정확하게 계산되면 이로 인해 ghost step error가 유발된다. 따라서 이를 해결하고자 많은 연구가 진행되어 왔고19-21 본 논문에서는 m 의 부정확성을 주파수 영역 분석법과 두 파장 위상 측정법을 이용하여 해결하고자 한다.22 본 방법의 기본 아이디어는 백색광의 넓은 대역에 걸친 파장의 위상 정보를 푸리에 변환(Fourier transform)을 거쳐 획득한 후 이중 임의의 두 개 파장을 선택한다.
  • 본 논문에서는 백색광 주사 간섭계를 이용하여 자유곡면과 같이 표면의 국부 형상 기울기가 큰 측정 물체에서 발생하는 측정 오차에 대해서 알아보았다. 또한 주파수 영역 분석법을 응용한 두 파장 위상 측정법을 이용하여 백색광 주사 간섭계에서 논란이 되어왔던 ghost step error와 같은 측정 오차를 효과적으로 제거하였고 자가 보정 방법 중의 하나인 RBT를 이용해 시스템 오차도 분석해 보았다.
  • 본 논문에서는 측정물체의 국부기울기가 심한 자유곡면과 같은 형상을 측정할 경우 발생하는 측정 오차를 줄이기 위해 새로운 측정 알고리즘을 제안하고 자가 보정 방법 중의 하나인 Random Ball Test (RBT)를 이용해 시스템 오차를 분석하고자 한다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
분산 백색광 간섭계의 장점은 무엇인가? 1-6 백색광 간섭계는 간섭무늬를 획득하는 방식에 따라 PZT 나 모터와 같은 기계적인 이송구동장치를 이용해 간섭무늬를 얻는 백색광 주사 간섭계(scanning white-light interferometry)1-3와 회절격자나 프리즘과 같은 광 분산장치를 이용해 간섭무늬를 분광시켜 얻는 분산 백색광 간섭계(dispersive white-light interferometry)4-7로 나눌 수 있다. 분산 백색광 간섭계는 백색광의 넓은 분광대역폭을 이용해 측정 물체와 기준면과의 광 경로 차(optical path difference) 에 의해 생기는 간섭무늬를 파장 별로 분광시켜 실시간 측정이 가능하고 외부 진동이나 환경에 둔감한 장점이 있다. 하지만 아직 관련 연구가 미미 하여 백색광 주사 간섭계에 비해 상용화가 이루어지고 있지 않은 실정이다.
Random Ball Test는 무엇인가? 시스템 오차를 분석할 때 많이 쓰이는 자가 보정 방법 중의 하나인 Random Ball Test (RBT)23-25를 이용하여 제안된 측정 알고리즘의 성능을 분석해 보았다. RBT는 시스템의 오차를 평가 및 분석하기 위해 가장 널리 쓰이는 방법 중의 하나로 임의로 회전된 구의 표면을 측정한 다음 또 다시 구를 임의로 회전 시켜 구의 표면을 측정하는 작업을 반복 수행하는 방법이다. 이때 반복 수행하여 얻은 측정값의 평균치를 구하게 되면 구면 수차와 시스템 오차 성분만이 남게 된다.
백색광 간섭계는 간섭무늬를 획득하는 방식에 따라 어떻게 나눌 수 있는가? 이중 백색광 간섭계는 지난 수십 년간 정밀미세부품의 삼차원 표면형상 측정을 비롯하여 박막두께측정에 이르기까지 광범위하게 활용되어 왔다.1-6 백색광 간섭계는 간섭무늬를 획득하는 방식에 따라 PZT 나 모터와 같은 기계적인 이송구동장치를 이용해 간섭무늬를 얻는 백색광 주사 간섭계(scanning white-light interferometry)1-3와 회절격자나 프리즘과 같은 광 분산장치를 이용해 간섭무늬를 분광시켜 얻는 분산 백색광 간섭계(dispersive white-light interferometry)4-7로 나눌 수 있다. 분산 백색광 간섭계는 백색광의 넓은 분광대역폭을 이용해 측정 물체와 기준면과의 광 경로 차(optical path difference) 에 의해 생기는 간섭무늬를 파장 별로 분광시켜 실시간 측정이 가능하고 외부 진동이나 환경에 둔감한 장점이 있다.
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참고문헌 (25)

  1. Flournoy, P., McClure, R., and Wyntjes, G., "White-light Interferometric Thickness Gauge," Applied Optics, Vol. 11, No. 9, pp. 1907-1915, 1972. 

  2. Dresel, T., Hausler, G., and Venzke, H., "Three-dimensional Sensing of Rough Surfaces by Coherence Radar," Applied Optics, Vol. 31, No. 7, pp. 919-925, 1992. 

  3. Kim, S.-W. and Kim, G.-H., "Thickness-profile Measurement of Transparent Thin-film Layers by White-light Scanning Interferometry," Applied Optics, Vol. 38, No. 28, pp. 5968-5973, 1999. 

  4. Ghim, Y.-S. and Kim, S.-W., "Thin-film Thickness Profile and Its Refractive Index Measurements by Dispersive White-light Interferometry," Optics Express, Vol. 14, No. 24, pp. 11885-11891, 2006. 

  5. Ghim, Y.-S. and Kim, S.-W., "Fast, Precise, Tomographic Measurements of Thin Films," Applied Physics Letters, Vol. 91, No. 9, Paper No. 091903, 2007. 

  6. Ghim, Y.-S. and Kim, S.-W., "Spectrally Resolved White-light Interferometry for 3D Inspection of a Thin-film Layer Structure," Applied Optics, Vol. 48, No. 4, pp. 799-803, 2009. 

  7. Schwider, J. and Zhou, L., "Dispersive Interferometric Profilometer," Optics Letters, Vol. 19, No. 13, pp. 995-997, 1994. 

  8. Kino, G. S. and Chim, S. S., "Mirau Correlation Microscope," Applied Optics, Vol. 29, No. 26, pp. 3775-3783, 1990. 

  9. Caber, P. J., "Interferometric Profiler for Rough Surfaces," Applied Optics, Vol. 32, No. 19, pp. 3438-3441, 1993. 

  10. Larkin, K. G., "Efficient Nonlinear Algorithm for Envelope Detection in White Light Interferometry," JOSA A, Vol. 13, No. 4, pp. 832-843, 1996. 

  11. Harasaki, A. and Wyant, J. C., "Fringe Modulation Skewing Effect in White-light Vertical Scanning Interferometry," Applied Optics, Vol. 39, No. 13, pp. 2101-2106, 2000. 

  12. Sandoz, P., Devillers, R., and Plata, A., "Unambiguous Profilometry by Fringe-order Identification in White-light Phase-shifting Interferometry," Journal of Modern Optics, Vol. 44, No. 3, pp. 519-534, 1997. 

  13. Harasaki, A., Schmit, J., and Wyant, J. C., "Improved Vertical-scanning Interferometry," Applied Optics, Vol. 39, No. 13, pp. 2107-2115, 2000. 

  14. Lehmann, P., "Systematic Effects in Coherence Peak and Phase Evaluation of Signals Obtained with a Vertical Scanning White-light Mirau Interferometer," Proc. of the SPIE on Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology, Vol. 6188, Paper No. 11, 2006. 

  15. Berger, R., Sure, T., and Osten, W., "Measurement Errors of Mirrorlike, Tilted Objects in White Light Interferometry," Proc. of the SPIE on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V, Vol. 6616, Paper No. 2E, 2007. 

  16. Park, M.-C., Kim, S.-W., and Yim, N. B., "Aberration Effects on White Light Interferometry," Korean Journal of Optics and Photonics, Vol. 12, No. 5, pp. 362-370, 2001. 

  17. De Groot, P. and Deck, L., "Three-dimensional Imaging by Sub-nyquist Sampling of White-light Interferograms," Optics Letters, Vol. 18, No. 17, pp. 1462-1464, 1993. 

  18. De Groot, P. and Deck, L., "Surface Profiling by Analysis of White-light Interferograms in the Spatial Frequency Domain," Journal of Modern Optics, Vol. 42, No. 2, pp. 389-401, 1995. 

  19. Niehues, J. and Lehmann, P., "Dual-wavelength Vertical Scanning Low-coherence Interference Microscope," Proc. of the SPIE on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V, Vol. 6616, Paper No. 6, 2007. 

  20. Niehues, J., Lehmann, P., and Bobey, K., "Dual-wavelength Vertical Scanning Low-coherence Interferometric Microscope," Applied Optics, Vol. 46, No. 29, pp. 7141-7148, 2007. 

  21. De Groot, P., Colonna de Lega, X., Kramer, J., and Turzhitsky, M., "Determination of Fringe Order in White-light Interference Microscopy," Applied Optics, Vol. 41, No. 22, pp. 4571-4578, 2002. 

  22. Ghim, Y.-S. and Davies, A., "Complete Fringe Order Determination in Scanning White-light Interferometry using a Fourier-based Technique," Applied Optics, Vol. 51, No. 12, pp. 1922-1928, 2012. 

  23. Gardner, N. and Davies, A., "Self-calibration for Microrefractive Lens Measurements," Optical Engineering, Vol. 45, No. 3, pp. 033603-1-033603-5, 2006. 

  24. Bergner, B. C. and Davies, A., "Self-calibration for Transmitted Wavefront Measurements," Applied Optics, Vol. 46, No. 1, pp. 18-24, 2007. 

  25. Zhou, Y., Ghim, Y.-S., Fard, A., and Davies, A., "Application of the Random Ball Test for Calibrating Slope-dependent Errors in Profilometry Measurements," Applied Optics, Vol. 52, No. 24, pp. 5925-5931, 2013. 

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