최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.31 no.7, 2014년, pp.605 - 613
김영식 (한국표준과학연구원 우주광학센터) , (노스캐롤라이나 대학교 물리) , 이혁교 (한국표준과학연구원 우주광학센터)
Scanning white-light interferometry is an important measurement option for many surfaces. However, serious profile measurement errors can be present when measuring free-form surfaces being highly curved or tilted. When the object surface slope is not zero, the object and reference rays are no longer...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
분산 백색광 간섭계의 장점은 무엇인가? | 1-6 백색광 간섭계는 간섭무늬를 획득하는 방식에 따라 PZT 나 모터와 같은 기계적인 이송구동장치를 이용해 간섭무늬를 얻는 백색광 주사 간섭계(scanning white-light interferometry)1-3와 회절격자나 프리즘과 같은 광 분산장치를 이용해 간섭무늬를 분광시켜 얻는 분산 백색광 간섭계(dispersive white-light interferometry)4-7로 나눌 수 있다. 분산 백색광 간섭계는 백색광의 넓은 분광대역폭을 이용해 측정 물체와 기준면과의 광 경로 차(optical path difference) 에 의해 생기는 간섭무늬를 파장 별로 분광시켜 실시간 측정이 가능하고 외부 진동이나 환경에 둔감한 장점이 있다. 하지만 아직 관련 연구가 미미 하여 백색광 주사 간섭계에 비해 상용화가 이루어지고 있지 않은 실정이다. | |
Random Ball Test는 무엇인가? | 시스템 오차를 분석할 때 많이 쓰이는 자가 보정 방법 중의 하나인 Random Ball Test (RBT)23-25를 이용하여 제안된 측정 알고리즘의 성능을 분석해 보았다. RBT는 시스템의 오차를 평가 및 분석하기 위해 가장 널리 쓰이는 방법 중의 하나로 임의로 회전된 구의 표면을 측정한 다음 또 다시 구를 임의로 회전 시켜 구의 표면을 측정하는 작업을 반복 수행하는 방법이다. 이때 반복 수행하여 얻은 측정값의 평균치를 구하게 되면 구면 수차와 시스템 오차 성분만이 남게 된다. | |
백색광 간섭계는 간섭무늬를 획득하는 방식에 따라 어떻게 나눌 수 있는가? | 이중 백색광 간섭계는 지난 수십 년간 정밀미세부품의 삼차원 표면형상 측정을 비롯하여 박막두께측정에 이르기까지 광범위하게 활용되어 왔다.1-6 백색광 간섭계는 간섭무늬를 획득하는 방식에 따라 PZT 나 모터와 같은 기계적인 이송구동장치를 이용해 간섭무늬를 얻는 백색광 주사 간섭계(scanning white-light interferometry)1-3와 회절격자나 프리즘과 같은 광 분산장치를 이용해 간섭무늬를 분광시켜 얻는 분산 백색광 간섭계(dispersive white-light interferometry)4-7로 나눌 수 있다. 분산 백색광 간섭계는 백색광의 넓은 분광대역폭을 이용해 측정 물체와 기준면과의 광 경로 차(optical path difference) 에 의해 생기는 간섭무늬를 파장 별로 분광시켜 실시간 측정이 가능하고 외부 진동이나 환경에 둔감한 장점이 있다. |
Flournoy, P., McClure, R., and Wyntjes, G., "White-light Interferometric Thickness Gauge," Applied Optics, Vol. 11, No. 9, pp. 1907-1915, 1972.
Dresel, T., Hausler, G., and Venzke, H., "Three-dimensional Sensing of Rough Surfaces by Coherence Radar," Applied Optics, Vol. 31, No. 7, pp. 919-925, 1992.
Kim, S.-W. and Kim, G.-H., "Thickness-profile Measurement of Transparent Thin-film Layers by White-light Scanning Interferometry," Applied Optics, Vol. 38, No. 28, pp. 5968-5973, 1999.
Ghim, Y.-S. and Kim, S.-W., "Thin-film Thickness Profile and Its Refractive Index Measurements by Dispersive White-light Interferometry," Optics Express, Vol. 14, No. 24, pp. 11885-11891, 2006.
Ghim, Y.-S. and Kim, S.-W., "Fast, Precise, Tomographic Measurements of Thin Films," Applied Physics Letters, Vol. 91, No. 9, Paper No. 091903, 2007.
Ghim, Y.-S. and Kim, S.-W., "Spectrally Resolved White-light Interferometry for 3D Inspection of a Thin-film Layer Structure," Applied Optics, Vol. 48, No. 4, pp. 799-803, 2009.
Schwider, J. and Zhou, L., "Dispersive Interferometric Profilometer," Optics Letters, Vol. 19, No. 13, pp. 995-997, 1994.
Kino, G. S. and Chim, S. S., "Mirau Correlation Microscope," Applied Optics, Vol. 29, No. 26, pp. 3775-3783, 1990.
Caber, P. J., "Interferometric Profiler for Rough Surfaces," Applied Optics, Vol. 32, No. 19, pp. 3438-3441, 1993.
Larkin, K. G., "Efficient Nonlinear Algorithm for Envelope Detection in White Light Interferometry," JOSA A, Vol. 13, No. 4, pp. 832-843, 1996.
Harasaki, A. and Wyant, J. C., "Fringe Modulation Skewing Effect in White-light Vertical Scanning Interferometry," Applied Optics, Vol. 39, No. 13, pp. 2101-2106, 2000.
Sandoz, P., Devillers, R., and Plata, A., "Unambiguous Profilometry by Fringe-order Identification in White-light Phase-shifting Interferometry," Journal of Modern Optics, Vol. 44, No. 3, pp. 519-534, 1997.
Harasaki, A., Schmit, J., and Wyant, J. C., "Improved Vertical-scanning Interferometry," Applied Optics, Vol. 39, No. 13, pp. 2107-2115, 2000.
Lehmann, P., "Systematic Effects in Coherence Peak and Phase Evaluation of Signals Obtained with a Vertical Scanning White-light Mirau Interferometer," Proc. of the SPIE on Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology, Vol. 6188, Paper No. 11, 2006.
Berger, R., Sure, T., and Osten, W., "Measurement Errors of Mirrorlike, Tilted Objects in White Light Interferometry," Proc. of the SPIE on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V, Vol. 6616, Paper No. 2E, 2007.
Park, M.-C., Kim, S.-W., and Yim, N. B., "Aberration Effects on White Light Interferometry," Korean Journal of Optics and Photonics, Vol. 12, No. 5, pp. 362-370, 2001.
De Groot, P. and Deck, L., "Three-dimensional Imaging by Sub-nyquist Sampling of White-light Interferograms," Optics Letters, Vol. 18, No. 17, pp. 1462-1464, 1993.
De Groot, P. and Deck, L., "Surface Profiling by Analysis of White-light Interferograms in the Spatial Frequency Domain," Journal of Modern Optics, Vol. 42, No. 2, pp. 389-401, 1995.
Niehues, J. and Lehmann, P., "Dual-wavelength Vertical Scanning Low-coherence Interference Microscope," Proc. of the SPIE on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V, Vol. 6616, Paper No. 6, 2007.
Niehues, J., Lehmann, P., and Bobey, K., "Dual-wavelength Vertical Scanning Low-coherence Interferometric Microscope," Applied Optics, Vol. 46, No. 29, pp. 7141-7148, 2007.
De Groot, P., Colonna de Lega, X., Kramer, J., and Turzhitsky, M., "Determination of Fringe Order in White-light Interference Microscopy," Applied Optics, Vol. 41, No. 22, pp. 4571-4578, 2002.
Ghim, Y.-S. and Davies, A., "Complete Fringe Order Determination in Scanning White-light Interferometry using a Fourier-based Technique," Applied Optics, Vol. 51, No. 12, pp. 1922-1928, 2012.
Gardner, N. and Davies, A., "Self-calibration for Microrefractive Lens Measurements," Optical Engineering, Vol. 45, No. 3, pp. 033603-1-033603-5, 2006.
Bergner, B. C. and Davies, A., "Self-calibration for Transmitted Wavefront Measurements," Applied Optics, Vol. 46, No. 1, pp. 18-24, 2007.
Zhou, Y., Ghim, Y.-S., Fard, A., and Davies, A., "Application of the Random Ball Test for Calibrating Slope-dependent Errors in Profilometry Measurements," Applied Optics, Vol. 52, No. 24, pp. 5925-5931, 2013.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.