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NTIS 바로가기전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE, v.18 no.2, 2014년, pp.234 - 239
Cho, Sung-Je (Department of Electronic Engineering, Hanbat National University) , Lee, Seung-Ho (Department of Electronic Engineering, Hanbat National University)
This paper proposes a new automatic detection method to inspect mura defects on display film surface using morphological image processing and labeling. This automatic detection method for mura defects on display films comprises 3 phases of preprocessing with morphological image processing, Gabor fil...
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SEMI, "New Standard: Definition of Measurement Index (SEMU) for Luminance Mura in FPD", SEMI, 2002
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SEMI, "Definition of measurement index (SEMU) for luminance Mura in FPD image quality inspection", SEMI D31-1102, 2002
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