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Automatic Detection Method for Mura Defects on Display Films Using Morphological Image Processing and Labeling 원문보기

전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE, v.18 no.2, 2014년, pp.234 - 239  

Cho, Sung-Je (Department of Electronic Engineering, Hanbat National University) ,  Lee, Seung-Ho (Department of Electronic Engineering, Hanbat National University)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper proposes a new automatic detection method to inspect mura defects on display film surface using morphological image processing and labeling. This automatic detection method for mura defects on display films comprises 3 phases of preprocessing with morphological image processing, Gabor fil...

주제어

AI 본문요약
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제안 방법

  • 5%. Moreover, the study was able to acquire more desirable results than those of previous studies using the Semu index used to detect luminance mura for FPD image quality inspection.
  • This study detected mura defects on display surface through morphological image processing and labeling. The proposed algorithm eliminates illumination components in preprocessing stage, and then highlights mura defects using the Gabor filter. Consequently, this mura detection algorithm creates an final image using the labeling algorithm.
  • The proposed technique comprises three phases of morphological image processing through the removal of illumination components, Gabor filtering for the establishment of mura candidate regions on images, and labeling for final mura detection.
  • To resolve these disadvantages, the use of image process is significantly more effective in mura detection in terms of time and cost compare to people detection methods. Therefore, this study proposes automatic detection method for mura defects on display film surface using morphological image processing and labeling.
  • The algorithm has outstanding detection rate by organizing an image with mura defects using the mura comparison algorithm in labeling stage where candidate objects are chosen as mura. This investigation was able to verify the detection ability of the proposed method by acquiring results regardless of a wide range of complex mura forms, colors, and others. The proposed detection method was tested in 200 display film samples and the detection rate was high at about 95.
  • This paper proposes a new automatic detection method that determines the presence of mura defects on display films by searching candidate regions of mura components and labeling them.
  • This study detected mura defects on display surface through morphological image processing and labeling. The proposed algorithm eliminates illumination components in preprocessing stage, and then highlights mura defects using the Gabor filter.

이론/모형

  • This paper evaluated objective reliability using the Semu index[9]. The Semu index was first introduced by the SEMI in 2002 to objectively evaluate FPD mura.
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참고문헌 (9)

  1. SEMI, "New Standard: Definition of Measurement Index (SEMU) for Luminance Mura in FPD", SEMI, 2002 

  2. Y.C Lee, C.E Shie, Din-Chang Tseng, "LCD Mura Detection Based on Accumulated Differences and Multi-resolution Background Subtraction", 2009 

  3. C. J. Lu, D. M. Tsai, "Automatic defect inspection for LCDs using singular value decomposition", International Journal of Advanced Manufacturing Technology, vol. 25, pp. 53-61, 2005 

  4. W. C. Li, D. M. Tsai, "Defect Inspection in Low-Contrast LCD Images Using Hough Transform-Based Nonstationary Line Detection," IEEE Transactions on Industrial Informatics, vol. 7, no. 1, pp. 136-147, 2011 

  5. X. Bi, C. Zhuang, H. Ding, "A New Mura Defect inspection way for TFT-LCD using level set method", IEEE Signal processing letters, vol. 16, no. 4, pp. 311-314, 2009 

  6. L. C. Chen, C. C. Kuo, "Automatic TFT-LCD mura defect inspection using discrete cosine transform-based background filtering and 'just noticeable difference' quantification strategies", Measurement Science and Technology, vol. 19, pp. 1-10, 2008 

  7. R. C. Gonzalez, R. E. Woods, "Digital Image Processing (3nd Edition) ", Prentice Hall, 2008 

  8. J. R. Movellan, "Tutorial on Gabor Filters", 2008 

  9. SEMI, "Definition of measurement index (SEMU) for luminance Mura in FPD image quality inspection", SEMI D31-1102, 2002 

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