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[국내논문] 온도변화에 따른 주석 도금한 전기 커넥터의 미동마멸 부식 거동
Fretting Corrosion Behavior of Tin-plated Electric Connectors with Variation in Temperature 원문보기

윤활학회지 = Journal of the Korean Society of Tribologists and Lubrication Engineers, v.30 no.3, 2014년, pp.146 - 155  

오만진 (서울과학기술대학교 NID융합기술대학원) ,  강세형 (서울과학기술대학교 자동차공학과 대학원) ,  이만석 (서울과학기술대학교 자동차공학과 대학원) ,  김호경 (서울과학기술대학교 기계.자동차공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, we conduct fretting corrosion tests on tin-plated brass coupons to investigate the effect of temperature on fretting corrosion for various span amplitudes. We prepare a coupled fretting corrosion specimens using a tin-plated brass coupon with a thickness of $10{\mu}m$. One ...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 따라서 30 µm이전과 이후를 두 구간으로 구분하여 변위와 수명과의 선도를 통하여 변위와 수명과의 관계식을 도출하고자 한다.
  • 본 연구에서는 자동차에서 일반적으로 많이 사용하는 주석으로 도금된 구리합금 커넥터 단자와 유사한 시험편에 일정한 접촉하중하에서 다양한 온도에서 접촉변위진폭을 변화시키며 저항수명과 마찰계수 변화 등을 분석하고자 한다. 또한 다양한 온도에서의 접촉 변위 진폭에 대하여 저항수명을 예측하는 관계식을 도출하고자 한다. 이를 통하여 전기저항이 급격히 증가하는 파손수명측면에서의 커넥터 단자의 설계시 필요한 기초 자료로 제공하고자 한다.
  • 본 연구에서는 미동마멸 시험을 위하여 스텝핑 모터를 적용하여 정교한 이동변위를 제어하는 시스템을 설계 및 제작하였다. 시험편에 추를 적용하여 일정한 하중을 작용시키는 시스템으로 설계하였다.
  • 본 연구에서는 자동차에서 일반적으로 많이 사용하는 주석으로 도금된 구리합금 커넥터 단자와 유사한 시험편에 일정한 접촉하중하에서 다양한 온도에서 접촉변위진폭을 변화시키며 저항수명과 마찰계수 변화 등을 분석하고자 한다. 또한 다양한 온도에서의 접촉 변위 진폭에 대하여 저항수명을 예측하는 관계식을 도출하고자 한다.
  • 또한 다양한 온도에서의 접촉 변위 진폭에 대하여 저항수명을 예측하는 관계식을 도출하고자 한다. 이를 통하여 전기저항이 급격히 증가하는 파손수명측면에서의 커넥터 단자의 설계시 필요한 기초 자료로 제공하고자 한다.

가설 설정

  • 3. 변위진폭이 약 30 µm이하 구간에서 커넥터의 열화에 의한 손상도(Ḋ)는 사이클수에 선형으로 반비례하여 수명(Nf)의 역수로 가정하여 아레니우스 식을 적용시 활성화에너지는 13.6 kJ/mole이며 수명식은 다음과 같이 도출되었다.
  • 본 연구에서는 시험편인 주석 도금 커넥터를 신호용 접점에 적용한다고 가정하여 파손기준을 0.01Ω으로 설정하였다. Fig.
  • 둘째, 온도가 증가하면서 커넥터의 프레팅에 의한 손상도(dF/dN)가 증가하여 온도에 관련된 아레니우스 식을 적용이 가능하다. 셋째, 커넥터의 열화에 의한 손상도는 직접적으로 프레팅에 의한 손상도(dF/dN)로 가정한다. 넷째, 커넥터의 열화에 의한 손상도는 Fig.
  • 따라서 다음과 같이 가정하여 관계식을 도출하였다. 첫째, 커넥터의 열화에 의한 손상도 (Ḋ)는 사이클수에 선형으로 반비례하여 수명(Nf)의 역수로 가정한다. 둘째, 온도가 증가하면서 커넥터의 프레팅에 의한 손상도(dF/dN)가 증가하여 온도에 관련된 아레니우스 식을 적용이 가능하다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
미동마멸부식에 영향을 미치는 주요인자는 무엇인가? 미동마멸부식에 영향을 미치는 주요인자로는 전류크기, 접촉하중, 상대습도, 미동마멸 주기, 미동마멸 변위진폭, 온도, 접촉변위, 분위기 가스 등으로 알려져 있다. 커넥터 단자의 미동마멸부식에 영향을 미치는 인자들에 대하여 국내외적으로 많은 연구가 진행되어 왔다[3-5].
커넥터 단자의 미동 마멸부식이란 무엇인가? 커넥터의 접촉 불량을 일으키는 주요 원인중의 하나인 커넥터 단자의 미동 마멸부식은 커넥터 단자 접촉부의 상대적 이동으로 인한 미세한 마모 현상을 동반한 부식현상을 말한다. 예로 엔진 센서 커넥터 단자의 경우 차량의 진동과 엔진의 정지 및 재가동으로 인한 온도 차이로 단자 접촉점의 미세한 이동 및 마모를 유발한다.
커넥터 단자의 미동 마멸부식은 어떤 문제를 유발하는가? 커넥터의 접촉 불량을 일으키는 주요 원인중의 하나인 커넥터 단자의 미동 마멸부식은 커넥터 단자 접촉부의 상대적 이동으로 인한 미세한 마모 현상을 동반한 부식현상을 말한다. 예로 엔진 센서 커넥터 단자의 경우 차량의 진동과 엔진의 정지 및 재가동으로 인한 온도 차이로 단자 접촉점의 미세한 이동 및 마모를 유발한다. 또한 엔진 주변의 고온 효과로 접촉점의 산화막이 생성되는 현상을 촉진하여 전기 접촉저항의 증가를 유발하게 된다. 최종적으로 센서에서 출력하는 신호의 값을 왜곡하여 차량 ECU에서 잘못된 출력 신호를 보내어 관련 엑츄에이터 동작의 오류를 초래할 수 있다.
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참고문헌 (11)

  1. Swingler, J., McBride, J. W., "The synergistic relationship of stresses in the automotive connector", Proc. 19th Int. Conf. Electric Contact Phenom., Nuremburg, Germany, pp. 141-145, 1998. 

  2. Swingler, J., McBride, J. W., Maul, C., "Degradation of road tested automotive connectors", IEEE Trans. Components and Packag. Tech., Vol. 23, No. 1, pp. 157-164. 2000. 

  3. Park, Y. W., Lee, K. Y., "Development of empirical equations for fretting-corrosion failure-time of tinplated contacts," Wear, Vol. 265, pp. 756-762. 2008. 

  4. Oh, M. J., Kim, M. J., Kim, T. Y., Kang, S. H., Kim, H. K., "Fretting corrosion behavior of silverplated electric connectors with constant displacement amplitude", J. Korean Soc. Tribol. Lubr. Eng., Vol. 30, No. 2, pp. 99-107, 2014. 

  5. Jedrzejczyk, P., Fouvry, S., Chalandon, P., "A fast methodology to quantify electrical-contact behaviour under fretting loading conditions", Wear, Vol. 267, pp. 1731-1740, 2009. 

  6. Narayanan, S., Park, Y. W., Lee, K. Y., "Fretting-corrosion mapping of tin-plated copper alloy contacts", Wear, Vol. 262, pp. 228-233, 2007. 

  7. Fukuda, T., Nakajima, M., Isono, Y., J. Japan Copper and Brass Research Assoc. Vol. 26, pp.174-182, 1987. 

  8. Cho, S., Yu, J., Kang, S., Shin, D., "Oxidation study of pure tin and its alloys via electrochemical reduction analysis", J. Electr. Mater., Vol. 34, No. 5, pp. 635-642, 2005. 

  9. Whitley, J. H., Malucci, R. D., "Contact resistance failure criteria", Proceedings of the 9th Int. Conf. on Electric Contact Phenomena, 24th IEEE Holm Conf., pp. 111-116, 1978. 

  10. Mroczkowski, R. S., "Electronic connector handbook", New York, McGraw-Hill, 1998. 

  11. Frenkel, R. E., Sherby, O. D., Dorn, J. E., "Activation energies for creep of cadmium, indium, and tin", Acta Metallugica, Vol. 3, No. 9, pp. 470-472, 1955. 

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