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Probing of Surface Potential Using Atomic Force Microscopy 원문보기

Applied microscopy, v.44 no.3, 2014년, pp.100 - 104  

Kwon, Owoong (School of Advanced Materials Science and Engineering, Sungkyunkwan University) ,  Kim, Yunseok (School of Advanced Materials Science and Engineering, Sungkyunkwan University)

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

As decreasing device size, probing of nanoscale surface properties becomes more significant. In particular, nanoscale probing of surface potential has paid much attention for understanding various surface phenomena. In this article, we review different atomic force microscopy techniques, including e...

주제어

#Atmomic force microscopy   #Electrostatic force microscopy   #Kelvin probe force microscopy   #Surface potential   #Surface charge  

AI 본문요약
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제안 방법

  • In such a case, contact potential difference or surface potential can be quantitatively obtained from dc voltage Vdc. In order to show some of experimental examples of EFM and KPFM measurements, each measurement was carried out in the ferroelectric Pb(Zr0.35Ti0.65)O3 (PZT) film. Since the ferroelectric film shows two different states of surface charges, it can be a good model system for demonstrating EFM and KPFM.
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