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와이블과 대수정규 수명분포를 따를 때 새로운 가속수명시험 계획의 개발
New Accelerated Life Test Plans for Weibull and Lognormal Lifetime Distributions 원문보기

신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.14 no.3, 2014년, pp.182 - 190  

서순근 (동아대학교 산업경영공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper presents new practical accelerated life test plans with different censoring times at three levels of stress for Weibull and lognormal lifetime distributions, respectively. The proposed plans are compared with the corresponding two-level statistically optimal plans and three-level compromi...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 3절과 같이 개발되었다. 그러나 본 논문에서는 이런 점을 고려하면서 다른 방향으로 최적계획의 대안 시험계획을 모색하고자 한다.
  • 본 논문에서는 낮은 스트레스 조건에 더 많은 시험시간을 배정하는 것이 왜 적정한지를 보이고 두 스트레스 수준에서 시험되는 Seo and Kim(1996)의 최적계획과는 달리 세 스트레스 수준에서 시험되는 새로운 실용적 계획을 제안하고 이를 기존 계획들과 비교하고자 한다.

가설 설정

  • (ⅱ) Y의 척도모수 σ는 스트레스에 관계없이 일정하다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
가속수명시험은 어떤 시험인가? 이러한 상황 하에서 대부분의 신뢰성 시험에서는 짧은 시간 내에 해당 제품의 수명을 파악하기 위하여 사용조건보다 가혹한 스트레스를 가하여 고장 가능성을 높이도록 시험하는 가속수명시험(Accelerated Life Test; 이하 ALT)을 채택하고 있다. 이때 ALT를 통해 얻어진 자료는 물리적으로 스트레스와 수명과의 관계를 설명할 수 있는 적절한 통계적 모형을 통해서 외삽(extrapolation)하여 정상 사용조건하의 수명을 평가한다.
가속수명시험을 통해 얻은 자료로 무엇을 하는가? 이러한 상황 하에서 대부분의 신뢰성 시험에서는 짧은 시간 내에 해당 제품의 수명을 파악하기 위하여 사용조건보다 가혹한 스트레스를 가하여 고장 가능성을 높이도록 시험하는 가속수명시험(Accelerated Life Test; 이하 ALT)을 채택하고 있다. 이때 ALT를 통해 얻어진 자료는 물리적으로 스트레스와 수명과의 관계를 설명할 수 있는 적절한 통계적 모형을 통해서 외삽(extrapolation)하여 정상 사용조건하의 수명을 평가한다.
가속수명시험 모형으로 최적계획 방식을 사용했을 때 문제점은? 일반적으로 최적계획은 통계적으로 효율성은 높지만 두 스트레스 조건에서만 시험하기 때문에 모수와 스트레스 관계 모형의 적정성 여부에 대한 검토가 불가능하고 저 스트레스 수준이 높아서 외삽 효과가 클 수가 있으며, 특히 저 스트레스 수준에서 시험종료 시까지 거의 고장이 관측되지 않을 수도 있다. 통계적 효율성을 약간 희생하면서 이러한 최적계획의 단점들을 보완한 3 혹은 4 스트레스 수준에서 시험되는 절충형 또는 실용적 계획은 저 스트레스 수준이 사용조건에 가깝게 설정되므로 스트레스에 의한 외삽량이 줄어들고, 시험단위를 낮은 스트레스 수준에 더 많이 할당하므로, 각 시험 조건에서 적절한 고장개수가 관측되어 시험 결과의 활용도를 높일 수 있다.
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참고문헌 (13)

  1. 서순근.정원기 (1997), 수명이 대수정규분포를 따를 때 연속 및 간헐적 검사하에서 가속수명 시험의 설계와 소표본 연구, 대한산업공학회지, 제23권, pp. 177-196. 

  2. 서순근.조호성 (1996), 대수정규분포와 간헐적 검사하에서의 가속수명시험 방식의 설계, 품질경영학회지, 제24권, pp. 25-43. 

  3. Kielpinski, T. and Nelson, W. (1975), Optimum Censored Accelerated Life Tests for Normal and Lognormal Life Distribution, IEEE Trans. on Reliability, R-24, pp. 310-320. 

  4. Ma, H. and Meeker, W. Q. (2010), Strategy for Planning Accelerated Life Tests with Small Sample Sizes, IEEE Trans. on Reliability, R-59, pp. 610-619. 

  5. Meeker, W. Q. (1984), A Comparison of Accelerated Life Test Plans for Weibull and Lognormal Distributions and Type I Censoring, Technometrics, Vol. 26, pp. 157-171. 

  6. Meeker, W. Q. and Hahn, G. J. (1985), How to Plan an Accelerated Life Test-Some Practical Guidelines, ASQC Basic References in Quality Control : Statistical Techniques, Vol. 10. 

  7. Meeker, W. Q. and Nelson, W. (1975), Optimum Accelerated Life Tests for the Weibull and Extreme Value Distribution, IEEE Trans. on Reliability, R-24, pp. 321-332. 

  8. Nelson, W. (1990), Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis, Wiley, New York. 

  9. Nelson, W. and Kielpinski, T. J. (1976), Theory for Optimum Censored Accelerated Life Tests for Normal and Lognormal Life Distribution, Technometrics, Vol. 18, pp. 105-114. 

  10. Nelson, W. and Meeker, W. Q. (1978), Theory for Optimum Accelerated Censored Life Tests for Weibull and Extreme Value Distributions, Technometrics, Vol. 20, pp. 171-177. 

  11. Seo, S. K. and Kim, K. S.(1996), Optimal Design of Accelerated Life Tests with Different Censoring Times, Journal of Korean Society for Quality Management, Vol. 24, pp. 44-58. 

  12. Seo, S. K. and Yum, B. J. (1991), Accelerated Life Test Plans under Intermittent Inspection and Type I Censoring : The Case of Weibull Failure Distribution, Naval Research Logistics, Vol. 38, pp. 1-22. 

  13. Yang, G. and Jin, L. (1994), Best Compromise Test Plans for Weibull Distributions with Different Censoring Times, Quality and Reliability Engineering International, Vol. 10, pp. 411-415. 

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