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NTIS 바로가기한국산학기술학회논문지 = Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society, v.15 no.11, 2014년, pp.6821 - 6829
The use of semiconductor devices as a component of eco-friendly motor vehicles has increased and their widespread use as high voltage switches is expected. On the other hand, in the case of high-voltage switches, reliability test equipment is not localized. To test high voltage switches, this paper ...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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AEC는 어떤 시험을 하는가? | 그러므로 고내압 소자를 시험하기 위한 전원장치의 개발을 위하여 관련 시험규격을 분석하였다. 특히 자동차용 반도체 신뢰성 시험을 위한 AEC(Automotive Electronic Council) Q101에서 시험항목을 분석하여 개발이 필요한 전원장치의 사양을 결정하였다. 주회로는 풀브리지 컨버터로 선정하였으며 주어진 장치 사양에 따라 각종 변수를 설계하였고, 회로 변수의 적절성은 시뮬레이션을 통하여 검증하였다. | |
신뢰성 시험의 현재 실정은? | 자동차용 반도체의 경우는 가정용, 산업용에 비해서 사용조건이 매우 엄격하며, 신뢰성 확보가 가장 중요하다. 신뢰성 시험은 저압 시험의 경우는 VLSI, 반도체 등 시험을 할 수 있는 장비가 개발되어 사용되고 있지만 고내압 소자의 경우는 신뢰성 시험을 하기 위한 장비가 국산화 되어 있지 않다. |
AEC Q101, "Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors", 2005
Christophe P. Basso, "Switch-mode power supplies", p.30-66, HONGRUNG publishing company, 2011
Eui-Cheol Nho, et. all, "Power Electronics", p.188-386, MUNUNDANG, 2006
Daniel W. Hart, "power electronics utilizing PSpice", INTERVISION, 2000
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