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XPS와 XRD 분석을 이용한 ITO 박막의 결정성과 비정질 특성에 관한 연구
Annealing Effect with Various Ambient Conditions of ITO Thin Film 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.14 no.4, 2015년, pp.20 - 24  

고정완 (청주대학교 반도체공학과) ,  정보영 (청주대학교 반도체공학과) ,  오데레사 (청주대학교 반도체공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This study was explained the correlation between the O 1s spectra and the crystallization of ITO thin films. The crystal structure of ITO thin films changed with various annealing temperatures and annealing methods such as atmosphere or vaccum conditions. The amorphous structure observed from XRD pa...

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  • ITO 투명전극에 대하여 물리적인 결합구조와 화학적인 특성에 대하여 살펴보기 위하여 ITO 박막을 증착한 뒤 열처리를 거친 샘플들을 XRD와 XPS 분석을 이용하여 물리적 화학적 특성들을 서로 비교하였다. ITO 박막은 열처리를 하면서 결정질 구조로 변하되는 것을 확인하였으며, 열처리 방법에 따라서 결정의 강도에서 변화가 있었다.
  • ITO박막의 열처리 온도와 결정구조와의 관계를 살펴보기 위해서 산소가스 20 sccm을 주입하여 스퍼터 방법으로 박막을 증착한 뒤 열처리를 100도와 200도에서 실시하였다. 열처리 환경은 대기 중에서와 진공 중에서 하였으며, 박막의 분석은 XRD, XP, PL 분석방법을 이용하였다.
  • ITO박막의 열처리 온도와 결정구조와의 관계를 살펴보기 위해서 산소가스 20 sccm을 주입하여 스퍼터 방법으로 박막을 증착한 뒤 열처리를 100도와 200도에서 실시하였다. 열처리 환경은 대기 중에서와 진공 중에서 하였으며, 박막의 분석은 XRD, XP, PL 분석방법을 이용하였다. 전기적인 특성을 살펴보기위해서 A/ITO/Si wafer 구조의 금속공정을 수행하여 Al 전극을 만들어서 I-V 특성을 측정하였다.
  • 이번 실험에서 진행된 실험으로는 각각 진공과 대기 중에서 각각 상온, 100℃, 200℃ 의 조건으로 Annealing하여 그 효과를 비교하고 분석하는 실험을 해보았다.
  • 열처리 환경은 대기 중에서와 진공 중에서 하였으며, 박막의 분석은 XRD, XP, PL 분석방법을 이용하였다. 전기적인 특성을 살펴보기위해서 A/ITO/Si wafer 구조의 금속공정을 수행하여 Al 전극을 만들어서 I-V 특성을 측정하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
ITO의 특징은 무엇인가? TCO (Transparent Conducting Oxide)로서 주로 사용 되는 ITO(Indium Tin Oxide)는 우수한 광학적, 전기적 특성을 가지고 있는 재료[1-3]이기 때문에 FPD, LCD, OLED, touch panel, 태양전지 등의 투명전극으로서 널리 사용되어 왔다[3-5]. ITO 박막을 상온에서 성장시킨 경우 주로 비정질 상이 얻어진다.
ITO박막에 주로 사용하는 공정은 무엇이며, 그 이유는 무엇인가? ITO (indium tin oxide) 박막은 in에 sn을 5 ~ 10% 정도 포함한 n-type 반도체 재료로서 ITO박막을 진공 증착 할 때에 sputtering장비가 가장 많이 사용되고 있다. ITO박막은 제조방법에 따라 차이가 있지만 200 ~ 400 o C이하의 온도에서 저온공정으로 증착하여야 높은 광 투과도 와낮은 비저항을 갖게 할 수 있으며, ITO박막을 상온에서 성장시키게 되면 비정질 상이 나타난다[11].
ITO 박막을 상온에서 성장시킨 경우 비정질 상이 얻어지는 이유는 무엇인가? ITO 박막을 상온에서 성장시킨 경우 주로 비정질 상이 얻어진다. 이는 박막이 결정성을 가지게 하기 위한 가장 큰 요소는 열에너지이므로 상온에서 증착 된 ITO박막은 에너지를 충분히 공급받지 못해 결정성을 갖기 어렵기 때문이다[7-8]. 일반적 으로 비정질 상의 ITO 박막보다 결정질 ITO 박막이 전기적 특성이 우수하기 때문에 결정성을 향상시키기 위한 다양한 노력이 필요하다[9-10].
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참고문헌 (14)

  1. Yasui, H. "ITO Thin films prepared by magnetron sputtering method using ITO target (Effects of plasma conditions and substrate temperature on ITO film properties)", JSME International Journal Series B, 38 pp. 108-113, (1995). 

  2. Im-Young Lee, Ky-Am Lee, "Properties of indium tin oxide thin films annealed in vacuum", Korean Journal of Optics and Photonics, 11 pp. 152-157, (2000) 

  3. Kyo Yong Han, "Indium tin oxide (ITO) gate electrode deposition and low temperature annealing", Collection of Dissertations-Research Institute for Technology Industry, 21, pp. 85-88, (1993). 

  4. Sung Jin Kim, Kyoon Choi, Se Young Choi, "Rapid thermal annealing effects on the electrical and structural properties of ITO thin films deposited at room temperature", Journal-Korean Institute of Metals and Materials, 51(9), pp.691-699 (2013). 

  5. Won-Hyo Cha, Ji-Eon Youn, Dong-Hyun Hwang, Chul-Su Lee, In-Seok Lee, Young-Guk Sona, "The electrical properties of PLZT thin films on ITO coated glass with various post-annealing temperature", Journal of the Korean Vacuum Society, 17, pp. 28-33, (2008). 

  6. Tae-Gyun An, Yeon-Serk Yu, "Anti-reflection and Electromagnetic wave shielding properties of the oblique angle deposited ITO films", Collection of Dissertations-Korea Information Technology Research Institute, 12, pp. 1-9, (2014). 

  7. So-Ra Kim, Jung-Eun Seo, Sang-Ho Kim, In-Seon Lee, Dong-Won Kim, "Optical and electrical properties of ITO/Ni/ITO thin films", Journal of Surface Engineering, 38, pp. 55-59, (2005). 

  8. Ju-Hee Heo, Dae-Sub Han, Yu-Lim Lee, Kyu-Mann Lee, In-Woo Kim, "Electrical and structural characteristics of ITO thin films deposited under different ambient gases", Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology, 7, pp. 7-11, (2008). 

  9. Bong-Kun Lee, Kyu-Mann Lee, "Effect of the surface roughness of ITO thin films on the characteristics of OLED device", Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology, 8, pp. 52, (2009). 

  10. D. R. A. Kiasatpoura, H. R. Fallaha, A. S. H. Rozatianc, "Surface characterization and microstructure of ITO thin films at different annealing temperatures", Applied Surface Science, 253, pp.9085-9090, (2007). 

  11. Hyunjung Shin, Chanhyung Kim, Changdeuck Bae, Jang-Sik Lee, Jaegab Lee, Sunghan Kim, "Effects of ion damage on the surface of ITO films during plasma treatment", DuPont Display, 253, pp. 8928-8932, (2007). 

  12. Jiaxiang Liu, Da Wu, Shengnan Zeng, "Influence of temperature and layers on the characterization of ITO films", Journal of Materials Processing Technology, 209, pp. 3943-3948, (2009).] 

  13. Huei-Tzong Lu, Meiso Yokoyama, "Plasma preparation on indium-tin-oxide anode surface for organic light emitting diodes", Journal of Crystal Growth, 260, pp. 186-190, (2004). 

  14. G. Kavei, A. M. Gheidari, "The effects of surface roughness and nanostructure on the properties of indium tin oxide (ITO) designated for novel optoelectronic devices fabrication", Journal of Materials Processing Technology, 208, pp. 514-519, (2008). 

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