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위와 같은 애퍼쳐를 삽입한 후 저배율에서 시야가 좁아지는 문제의 발생 여부를 확인하기 위해 저배율에서 SEM을 테스트하였으며, 그림 8은 그 이미지를 보여준다
. 이미지는 기대대로 저배율에서의 시야 제한 현상이 없음을 보여주었다.핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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2차 전자가 고체시료 속을 통과할 수 있는 거리가 짧은 이유는? | 2차 전자는 에너지가 낮기 때문에 고체시료 속을 통과할 수 있는 거리가 짧다. 2차 전자는 시료 표면으로부터 금속의 경우 2nm 이내에서, 부도체의 경우 20nm 이내에서 방출된다. | |
주사전자현미경으로 시료의 표면형상을 맵핑하기까지 어떤 과정을 거치는가? | 주사전자현미경은 전기 또는 자기 렌즈로 전자빔을 집속하여 나노스케일의 전자빔 스폿(프로브라고도 불림)을 만든 후, 스폿을 편향기를 이용하여 시료위에 주사하고, 입사된 전자빔에 의해 여기되어 시료로부터 방출되는 신호 전자를 검출하여 컴퓨터 모니터상에 시료의 확대된 표면형상을 맵핑한다. 방출되는 전자빔은 다양한 에너지 분포를 가지며 일반적으로 그림 1과 같은 에너지 분포를 가진다. | |
부도체 시료를 관찰하기 위해 금속코팅하는 것의 문제점은? | 생물시료, 종이, 세라믹 등의 부도체 시료를 주사전자현미경으로 관찰할 때는, 위와 같은 대전현상에 의한 이미지 왜곡을 방지하기 위해 일반적으로 시료 표면을 스퍼터링 방법 등으로 금속 코팅한 후 관찰한다. 그러나 금속 코팅 장비가 고가이며, 시료 금속 코팅에는 시간과 경비가 소요된다. 특히 산업체에서의 공정 검사 등에서는 시료의 코팅이 허용되지 않고, 신속성이 요구되므로 금속 코팅 없이 PCB, 액정, 마스크 등을 관찰하고자 하는 수요가 꾸준히 증가하고 있다. |
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