$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

저진공 주사전자현미경의 개발 원문보기

진공 이야기 = Vacuum magazine, v.2 no.4, 2015년, pp.50 - 53  

조복래 (한국표준과학연구원)

초록이 없습니다.

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

제안 방법

  • 최근 터보 펌프는 백업 라인의 압력이 10mbar 이하가 되면 가동이 가능한 turbo-drag 하이브리드 타입으로 개량되어, 배기 라인의 압력이 10 mbar만 되어도 터보펌프를 가동시킬 수 있다. 따라서 진공 제어보드를 교체하여 로터리펌프 가동 후 배기 라인의 압력이 10 mbar가 되면 터보펌프를 가동시킬 수 있도록 하였다. 시료실은 배기속도가 큰 로터리 펌프로 배기하고 다시 needle밸브 등으로 공기량을 조절하면서 다량 투입하면 원하는 저진공 상태를 빨리 얻을 수 있었다.
  • 기존의 대물렌즈 애퍼쳐 직경은 30 μm이었으며, 이를 렌즈중심부의 애펴쳐로 대치시키기 위해 시뮬레이터를 사용하여 계산하여, 동일한 빔전류와 개구각을 얻을 수 있는 내경 150 μm이 애퍼쳐를 레즈 중심에 삽입하였다. 또한 빔 궤도 중심이 애퍼쳐 중심과 일치하지 않는 경우를 대비하여 대물렌즈 상단에 빔 얼라인먼트용 편향기를 추가 설치하였다. 편향기 구조는 전자총 얼라인먼트 평향기와 동일하며, 기존 전기 계통과 별도로 외부 전원을 사용하여 편향기를 제어하는 방식을 채택하였다.
  • 6] 대물렌즈 애퍼쳐의 장착 구조. 렌즈 중심에 애퍼쳐를 위치

    위와 같은 애퍼쳐를 삽입한 후 저배율에서 시야가 좁아지는 문제의 발생 여부를 확인하기 위해 저배율에서 SEM을 테스트하였으며, 그림 8은 그 이미지를 보여준다. 이미지는 기대대로 저배율에서의 시야 제한 현상이 없음을 보여주었다.

  • 저진공 SEM은 시료실의 가스 분자가 경통으로 유입되는 것을 방지하기 위하여 시료실과 전자현미경 경통 사이에 내경 1mm 이하의 애퍼쳐를 삽입한 후 시료실의 압력을 0.1 mbar 이상의 저진공으로 유지한 상태에서 시료를 관찰한다. SEM은 전자빔을 편향기를 이용하여 시료위에 주사하여 이미지를 형성시키는데, 애퍼쳐에 의해 아래 그림 4처럼 빔 주사 범위가 좁아져 결과적으로 시료를 관찰하는 시야가 좁아지는 현상이 발생한다.
  • 또한 빔 궤도 중심이 애퍼쳐 중심과 일치하지 않는 경우를 대비하여 대물렌즈 상단에 빔 얼라인먼트용 편향기를 추가 설치하였다. 편향기 구조는 전자총 얼라인먼트 평향기와 동일하며, 기존 전기 계통과 별도로 외부 전원을 사용하여 편향기를 제어하는 방식을 채택하였다.

대상 데이터

  • 고진공 상태에서 SEM이미지는 시료의 대전(charging)에 의해 이미지의 왜곡이 심하나, 저진공 상태에서는 금속 코팅을 한 시료처럼 부도체 시료인 종이의 표면이 선명하게 이미징되는 것을 알 수 있다. 검출기로는 반도체 타입의 BSE(backscattered electron) 검출기를 사용하였으며, 그 기본 구조는 photodiode와 동일하다. 고전압을 가해주는 2차전자 (SE) 검출기는 저진공에서 방전이 발생하여 사용이 불가능하다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
2차 전자가 고체시료 속을 통과할 수 있는 거리가 짧은 이유는? 2차 전자는 에너지가 낮기 때문에 고체시료 속을 통과할 수 있는 거리가 짧다. 2차 전자는 시료 표면으로부터 금속의 경우 2nm 이내에서, 부도체의 경우 20nm 이내에서 방출된다.
주사전자현미경으로 시료의 표면형상을 맵핑하기까지 어떤 과정을 거치는가? 주사전자현미경은 전기 또는 자기 렌즈로 전자빔을 집속하여 나노스케일의 전자빔 스폿(프로브라고도 불림)을 만든 후, 스폿을 편향기를 이용하여 시료위에 주사하고, 입사된 전자빔에 의해 여기되어 시료로부터 방출되는 신호 전자를 검출하여 컴퓨터 모니터상에 시료의 확대된 표면형상을 맵핑한다. 방출되는 전자빔은 다양한 에너지 분포를 가지며 일반적으로 그림 1과 같은 에너지 분포를 가진다.
부도체 시료를 관찰하기 위해 금속코팅하는 것의 문제점은? 생물시료, 종이, 세라믹 등의 부도체 시료를 주사전자현미경으로 관찰할 때는, 위와 같은 대전현상에 의한 이미지 왜곡을 방지하기 위해 일반적으로 시료 표면을 스퍼터링 방법 등으로 금속 코팅한 후 관찰한다. 그러나 금속 코팅 장비가 고가이며, 시료 금속 코팅에는 시간과 경비가 소요된다. 특히 산업체에서의 공정 검사 등에서는 시료의 코팅이 허용되지 않고, 신속성이 요구되므로 금속 코팅 없이 PCB, 액정, 마스크 등을 관찰하고자 하는 수요가 꾸준히 증가하고 있다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

저자의 다른 논문 :

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로