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스펙트럼 분석기를 이용한 2가지 잡음 파라미터 측정방법과 비교
Two Noise Parameter Measurement Methods Using Spectrum Analyzer and Comparison 원문보기

韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.26 no.12, 2015년, pp.1072 - 1082  

이동현 (충남대학교 전파공학과) ,  염경환 (충남대학교 전파공학과)

초록
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본 논문에서는 스펙트럼 분석기를 이용하여 잡음 파라미터를 측정하는 2가지 방법을 제안하였다. 제안된 첫 번째 방법은 6-포트 회로망을 이용하여 잡음상관행렬을 측정하고, 이를 통해 잡음파라미터를 결정하는 방법이다. 그리고 제안된 두 번째 방법은 전원 임피던스의 변화에 따른 DUT의 잡음지수를 직접 측정하고, 이를 통해 잡음파라미터를 추출하는 방법이다. 전원 임피던스의 변화에 따른 잡음지수를 측정을 위해 스펙트럼 분석기를 이용, 임의의 전원 임피던스를 갖는 DUT의 잡음지수를 측정하는 방법과 전원 임피던스의 변화를 위해 사용한 임피던스 튜너가 DUT에 주는 잡음영향을 제거하는 방법을 보였다. 제안된 2가지의 방법으로 수동 및 능동 DUT에 대한 잡음파라미터를 측정하였고, 이를 비교하였다. 비교 결과, 2가지 방법에 대한 잡음 파라미터 결과가 일치하였다. 2가지 방법의 잡음 파라미터 결과가 일치하는 것은 6-포트 회로망으로 측정된 잡음파라미터가 전원 임피던스의 변화에 따라 측정된 DUT의 잡음지수를 정확히 예측한다는 것을 의미하며, 이를 통해 6-포트 회로망으로 측정된 잡음 파라미터 결과가 검증되었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, we propose two noise parameter measurement methods using spectrum analyzer. First method, we measure a noise correlation matrix using the 6-port network, and we calculate noise parameters using measured a noise correlation matrix. Second method, we directly measure noise figures of th...

주제어

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
잡음지수는 어디에 사용되는가? 잡음지수는 일반적인 2-포트 소자의 잡음 특성을 평가 하는 데 널리 사용되고 있다. 이 잡음지수는 2-포트 회로망에 연결되는 전원 임피던스(source impedance)의 함수이며, 전원 임피던스에 따른 잡음지수의 변화는 4개의 잡음 파라미터 NF m in , Rn및 Sopt를 알 경우 결정된다[1].
6-포트 회로망으로 측정된 수동 및 능동 DUT에 대한 잡음파라미터의 결과를 검증한 내용은? 그리고 이 두 가지 방법에 대한 결과 비교를 통해 6-포트 회로망으로 측정된 수동 및 능동 DUT에 대한 잡음파라미터의 결과를 검증하였다. 검증결과, 6-포트 회로망으로 측정된 잡음파라미터는 전원임피던스 변화에 따른 잡음지수를 정확하게 예측하는 것을 알 수 있었다.
잡음지수는 어떻게 결정되는가? 잡음지수는 일반적인 2-포트 소자의 잡음 특성을 평가 하는 데 널리 사용되고 있다. 이 잡음지수는 2-포트 회로망에 연결되는 전원 임피던스(source impedance)의 함수이며, 전원 임피던스에 따른 잡음지수의 변화는 4개의 잡음 파라미터 NF m in , Rn및 Sopt를 알 경우 결정된다[1]. 잡음 파라미터를 측정하는 통상적인 방법으로는 NFA(Noise Figure Analyzer)와 임피던스 튜너를 이용하여 측정하게 된다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (11)

  1. IRE Subcommittee on Noise, "IRE standards on methods of measuring noise in linear two ports 1959", Proc. IRE, vol. 48, pp. 60-68, Jan. 1960. 

  2. R. Q. Lane, "The determination of device noise parameter", Proc. IEEE, vol. 57, pp. 1461-1462, 1969. 

  3. M. S. Gupta, "Determination of the noise parameters of a linear 2-port", Electron. Lett., vol. 6, no. 17, pp. 543-544, Aug. 1970. 

  4. A. -R. Ahmed, K. -W. Yeom, "An extraction of two-port noise parameters from measured noise powers using an extended six-port network", IEEE Trans. on Microwave Theory and Tech., vol. 62, no. 10, pp. 2423-2434, Oct. 2014. 

  5. 염경환, 압둘-라흐만, "6-포트 회로망을 이용한 잡음 파라미터 측정", 한국전자파학회논문지, 26(2), pp. 119-126, 2015년 2월. 

  6. 이동현, 압둘-라흐만, 이성우, 염경환, "8-포트 회로망을 이용한 온-웨이퍼형 DUT의 잡음 파라미터 측정", 한국전자파학회논문지, 25(8), pp. 808-820, 2014년 8월. 

  7. Keysight Technologies, Noise Figure Measurement Accuracy-The Y-Factor Method, Application Note, [Available on line] http://www.keysight.com/ 

  8. Keysight Technologies, PSA Series Spectrum Analyzers, Data Sheet, [Available on line] http://www.keysight.com/ 

  9. S. W. Wedge, "Computer-aided design of low noise microwave circuits", Ph.D. Dissertation, California Institute of Technology, 1991. 

  10. S. W. Wedge, D. B. Rutledge, "Wave techniques for noise modeling and measurement", IEEE Trans. Microw. Theory Tech. vol. 40, no. 11, Nov. 1992. 

  11. K. -W. Yeom, Microwwave Circuit Design A Practical Approach using ADS, Prentice Hall, 2015. 

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