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전기학회논문지. The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. P, v.64 no.3, 2015년, pp.146 - 152
성치호 (Dept. of Electrical Engineering, Pukyong National University) , 박한석 (Dept. of Electrical Engineering, Pukyong National University)
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In this paper, we propose a boost DC-DC converter using a modification of the passive auxiliary resonant snubber circuit with a DC-DC converter in a typical active auxiliary resonant snubber-bridge inverter. The proposed boost DC-DC converter is small compared to the DC-DC converter according to the...
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| 핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
|---|---|---|
| 하드 스위칭 방식의 고속 스위칭화로 발생하는 문제는? | 그러나 기존의 하드 스위칭 방식에 의한 반도체 전력 변환 회로와 장치는 스위칭 주파수의 고주파화에 따라 전력 반도체의 스위칭 손실의 증대, 장치의 효율 저하, 방열 처리 냉각 장치의 대형화 등의 문제점들이 발생된다. 또한, 하드 스위칭 방식의 고속 스위칭화는 di/dt, dv/dt 스트레스와 관련된 서지 전압 및 서지 전류의 발생에 의한 전력 반도체 장치의 정격 저감화, 대지 누설 전류와 전자기 노이즈 레벨이 커지는 등의 문제가 표면화되어지고 있다[5] | |
| 본 논문에서 일반적인 액티브 보조 공진 스너버 브리지 인버터에서 DC-DC 컨버터로 변형한 회로인 패시브 보조 공진 스너버를 이용한 승압형 DC-DC 컨버터는 어떤 문제점을 해결하기 위해 제안되었는가? | 또한, 액티브 보조 공진 스너버 방식을 기본으로 한 소프트 스위칭 동작 원리를 비절연형 반도체 전력변환 회로들에 적용하는 기술이 활발히 연구되어지고 있다. 하지만 비절연형 반도체 전력 변환 회로들은 스위치와 극성 다이오드의 직렬 회로 요소 즉 반대 직렬연결 회로 요소가 회로에 존재하는 DC-AC 인버터 또는 DC-DC 컨버터 등으로 구성되어있다. 이 스위치 구성을 위한 다이오드에 부하 전류가 흐를 때 스위치 턴-온시 반드시 다이오드 복구 회복 기간이 나타나 스위치와 다이오드를 통해 복구 단락 현상이 발생한다. 이 복구 단락 현상은 하드 스위칭 방식에 있어서는 불가피하다[6-8] | |
| 기존의 하드 스위칭 방식에 의한 반도체 전력 변환 회로와 장치에서 발생할 수 있는 문제점은? | 그러나 기존의 하드 스위칭 방식에 의한 반도체 전력 변환 회로와 장치는 스위칭 주파수의 고주파화에 따라 전력 반도체의 스위칭 손실의 증대, 장치의 효율 저하, 방열 처리 냉각 장치의 대형화 등의 문제점들이 발생된다. 또한, 하드 스위칭 방식의 고속 스위칭화는 di/dt, dv/dt 스트레스와 관련된 서지 전압 및 서지 전류의 발생에 의한 전력 반도체 장치의 정격 저감화, 대지 누설 전류와 전자기 노이즈 레벨이 커지는 등의 문제가 표면화되어지고 있다[5] |
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