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NTIS 바로가기한국금형공학회지 = Journal of the Korea Society of Die & Mold Engineering, v.10 no.2, 2016년, pp.50 - 54
In the semiconductor industry the final products were checked for several environments before sell the products. The burning test of memory and chip was implemented in reliability for all of parts. The memory and chip were developed to high density memory and high performance chip, so circuit design...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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반도체 부품의 특징은 무엇인가? | 현대사회는 과학기술의 발전으로 인해 많은 제품들이 생산되고 있으며 최근에는 매우 소형의 제품들이 다양한 기능들을 가지고 시장에 출품되고 있으며, 이중 반도체부품은 그 대표적인 제품이라고 할 수 있다. 이러한 반도체 부품의 특징은 제품의 크기가 작고 연결회로 간의 간격 또는 피치 등이 매우 적은 것이 특징일 수 있다. 또한 커넥터 부품1,2) 또한 정밀도 등에서 매우 중요한 부품이 되곤 한다. | |
다양한 기능을 가진 소형의 제품 중 대표적인 제품은 무엇인가? | 현대사회는 과학기술의 발전으로 인해 많은 제품들이 생산되고 있으며 최근에는 매우 소형의 제품들이 다양한 기능들을 가지고 시장에 출품되고 있으며, 이중 반도체부품은 그 대표적인 제품이라고 할 수 있다. 이러한 반도체 부품의 특징은 제품의 크기가 작고 연결회로 간의 간격 또는 피치 등이 매우 적은 것이 특징일 수 있다. | |
반도체 테스트용 소켈 중 Land Grid Array는 어떤 방식을 통해 테스트하며 특징은 무엇인가? | 반도체 테스트용 소켓은 이러한 반도체부품의 테스트를 위하여 사용되는 부품의 일환으로 BGA(Ball Grid Array), LGA(Land Grid Array) 등의 부품 들이 있을 수 있다. 이 중 LGA 부품의 경우는 매우 얇은 다수의 제품을 적층 하여 반도체 테스트용 소켓에 조립하여 사용되어지는 부품으로 제품의 특성은 재질은 플라스틱이며 두께가 얇고 피치가 적은 것이 특징이며 형상 또한 복잡성을 가지고 있고 요구되어지는 정밀도 또한 매우 높은 정밀도를 요구하고 있다3,4). 여기에 사용 되는 LGA 부품 중 Separator 부품은 20~40매 정도를 적층하여 사용하는 제품으로 사출성형을 사용하여 제작되어지며 사출성형 후 제품을 마무리하여 조립공정을 거쳐 반도체를 테스트하는 소켓으로 조립되게 된다. |
P. Sung and R. Chen,"Connector structure based modeling of assembly sequence planning", Applied Mechanics and Materials Volume 496-500, pp. 2729-2732.
Y. Heo, J. Kim, H. Lee, S. Won, and S. Yoon "Design of Wire to Board Insulation Displacement Connector for Simplification of Assembling Process Proceeding of the 6th Int. Conf. on Mfg.", Machine Design and Tribology p. 303, 2015.
유진, 신희석, 한무근, 허영무, "노트북 PC용 WTB 커넥터 설계", 제 11회 금형가공심포지엄 논문집, pp. 156-162, 2014.
허영무, 박형필, 신광호, " 커넥터 소켓 하우징 사출성형해석", 한국자동차공학회 논문집 p. 1745, 2013.
H.H. Shin, Y.M. Heo,"Study on the Effect of Injection Molding Time for Molding of Small Pitch Connector Housing", POLYCHAR21, p. 274, 2013.
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