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NTIS 바로가기韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.27 no.6, 2016년, pp.504 - 511
유제우 (LIG넥스원(주)) , 채희덕 (LIG넥스원(주)) , 박종국 (LIG넥스원(주)) , 임재환 (LIG넥스원(주)) , 김덕환 (LIG넥스원(주)) , 진형석 (LIG넥스원(주)) , 김한생 (LIG넥스원(주))
In this paper, the method is proposed that the equivalent result can be obtained by compensating the variation of gain and phase in the comparison with the result of near-field measurement which is obtained in the steady state, although the gain and phase variation of rx-channels occurred in the nea...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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근접전계 수신시험은 어떻게 측정하는가? | 그림 1은 디지털 빔 형성 능동 위상 배열의 근접전계수신시험을 위한 시험구성 및 신호흐름도를 보여준다. 일반적으로 근접전계 수신시험은 주장비에서 발생시킨 연속(CW) 신호를 근접전계 프로브를 통하여 주장비에 입력시켜 각 수신 채널마다의 특성을 측정한다. 주장비인 파형발생기에서 발생된 신호를 주파수상향변환기를 통하여 운용주파수로 상향변환시키고 이를 근접전계 시설의 케이블 및 프로브로 입력시킨다. | |
능동 위상 배열 안테나의 근접전계 시험에서 검증되는 모든 주장비가 근접전계 시험 데이터 취득 시간동안에 안정화 상태가 유지되어야 하는 이유는? | 이러한 능동 위상 배열 안테나의 근접전계 시험에서 검증되는 모든 주장비는 근접전계 시험 데이터 취득 시간동안에 안정화 상태가 유지 되어야 한다. 왜냐하면 원전계 패턴 시험에서는 측정되는 각도 별로 서로 영향을 주지 않고 독립적인 측정이 이루어지지만, 근접전계 패턴시험에서는 특정 위치에서의 측정 데이터가 원전계로 변환 될 때 정의된 좌표계의 모든 각도의 패턴에 영향을 줄 수 있기 때문이다. 이러한 주장비의 안정화 상태를 검증하기 위해서 기존의 근접전계 시험 구성에서는 근접전계 패턴 시험의 사전/사후에 보정 경로를 통과하는 신호를 이용하여 시험 전/후의 수신 채널에 발생한 변화를 확인하고 근접전계 패턴 시험 시간 동안에 취득된 데이터의 유효성을 결정하였다. | |
본 연구의 시험에서 측정되는 주파수 대역에 대해 일정한 감쇄 특성을 갖는 감쇄기를 이용한 이유는 무엇인가요? | 주장비인 파형발생기에서 발생된 신호를 주파수상향변환기를 통하여 운용주파수로 상향변환시키고 이를 근접전계 시설의 케이블 및 프로브로 입력시킨다. 여기에서 프로브의 출력은 수신채널의 동적범위를 고려하여 알맞은 전력 레벨을 산정하고 이를 유지시켜주기 위해서 측정되는 주파수 대역에 대해 일정한 감쇄 특성을 갖는 감쇄기를 이용한다. 한편, 프로브를 통해 출력된 신호는 주장비의 안테나를 통해 모든 수신채널마다 입력되며, 이를 정의된 근접전계측정 위치마다 프로브를 이동시켜 측정/저장하고, 데이터를 변환하여 최종적인 원전계 패턴을 계산한다. |
E. Grorud, C. Mehl, C. Renard, E. Semmler, and K. Weidmann, "Design and measurement of an active array antenna for an airborne X-Band SAR/MTI radar", Proceedings of The European Conference on Antennas and Propagation(EuCAP 2006), Nice, France, Nov. 2006.
W. Haselwander, M. Uhlmann, S. Wustefeld, and M. Bock, "Measurement on an active phased array antenna on a near-field range and an anechoic far-field chamber", 31st European Microwave Conference, London, Sep. 2001.
J. J. H. Wang, "An examination of the theory and practices of planar near-field measurement", IEEE Trans. Antennas Propagat., vol. 36, pp. 746-753, Jun. 1988.
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