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[국내논문] 실용적 복합 가속수명시험 계획의 개발
Planning Practical Multiple-Stress Accelerated Life Tests 원문보기

신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.17 no.2, 2017년, pp.112 - 121  

배봉수 (동아대학교 산업경영공학과) ,  서순근 (동아대학교 산업경영공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Purpose: The most previous works on designing accelerated life tests (ALTs) are focused on the application of a single stress. Because of the difficulty to obtain the sufficient information in a reasonable duration using single stress only, there is needed in practice to use multiple-stress ALTs fre...

Keyword

AI 본문요약
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문제 정의

  • 따라서 본 논문에서는 단일 스트레스 ALT에 널리 활용되는 절충형 등의 3수준 시험계획의 설계 개념[14, 15]을 두 스트레스 복합 ALT 시험설계에 적용한, 4수준에서 시험되는 여러 실용적 시험계획을 도출한다. 이런 시험계획을 E-M 시험계획과 통계적 효율성, 시험계획 설정에 필요한 입력 정보의 오추정에 따른 강건성, 실용적 특성 측면에서 비교하여 바람직한 복합 스트레스 ALT 계획을 선택할 수 있는 지침을 제공하고자 한다.

가설 설정

  • (i) 두 스트레스의 시험 조건에서 수명(T)과 대수수명(Y= InT )은 와이블과 최소 극단값(smallest extreme value)분포를 따르며 각각의 확률밀도함수는 다음과 같다.
  • (ii) Y의 척도모수 σ는 스트레스에 관계없이 일정하다.
  • (iii) Y의 위치모수 μ는 식 (3)과 같이 표준화된 스트레스 s1과 s2 의 선형함수이다.
  • (iv) 시험이 실시되는 스트레스 수준 수(k)는 2개(CL, CH), 3개(CHL, CLH, CH) 또는 4개 (CLL' CHL' CLH' CHH')이고, 각 수준에서 스트레스는 일정하게 가해진다.
  • (v) 각 스트레스에서의 시험 단위 ni는 스트레스 수준에 대해 독립적으로 시험되며 tci까지 관측된다(즉, 제1종 관측중단). 수준별로 관측중단시간을 달리 배정하여 설계기준인 통계적 효율성을 높일 수도 있지만[16], 일반적으로 대부분 시험계획은 시험 수준의 관측 중단 시험시간을 동일하게 설정하고 있으므로 tci = tc, i =1, ⋯ , k인 경우로 한정한다.
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참고문헌 (18)

  1. Nelson, W. (2015). "An Updated Bibliography of Accelerated Test Plans". Proceedings of 2015 Annual Reliability and Maintainability Symposium, p. 6. 

  2. Nelson, W. (1990). "Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis". John Wiley & Sons, New York (USA). 

  3. Escobar, L. A. and Meeker, Q. (1995). "Planning Accelerated Life Tests with Two or More Experimental Factors". Technometrics, Vol. 37, pp. 411-427. 

  4. Meeker, W. Q. and Escobar, L. A. (1998). "Statistical Methods for Reliability Data". John Wiley & Sons, New York (USA). 

  5. Gao, L., Chen, W., Liu, J. and Pan, J. and Qian, P. (2011). "Design Criteria for Planning Multiple Stresses Accelerated Life Test". Proceedings of the 9th International Conference on Reliability Maintainability & Safety, pp. 1141-1146. 

  6. Chen, W., Gao L., Liu, J., Qian, P. and Pan, J. (2012). "Optimal Design of Multiple Stress Accelerated Life Test Plan on the Non-Rectangle Test Region". Chinese Journal of Mechanical Engineering, Vol. 25, pp. 1231-1237. 

  7. Gao L., Chen, W., Liu, J., Qian, P. and Pan, J. (2014). "Optimal Design of Multiple Stresses Accelerated Life Test Plan Based on Transforming the Multiple Stresses to Single Stress". Chinese Journal of Mechanical Engineering, Vol. 27, pp. 1125-1132. 

  8. Park, J. W. and Yum, B. J. (1996). "Optimal Design of Accelerated Life Testing with Two Stress". Naval Research Logistics, Vol. 43, pp. 863-884. 

  9. Guo, H. and Pan, R. (2007). "D-Optimal Reliability Test Design for Two Stress Accelerated Life Tests". Proceedings of the 2007 IEEE International Industrial Engineering and Engineering Management, pp. 1236- 1240. 

  10. Yang, G. (2005). "Accelerated Life Tests at Higher Usage Rates". IEEE Transactions on Reliability, Vol. 54, pp. 53-57. 

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  12. Zhu, Y. and Elsayed, E. A. (2013). "Design of Accelerated Life Testing Plans under Multiple Stresses". Naval Research Logistics, Vol. 13, pp. 469-478. 

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  14. Meeker, W. Q. and Hahn, G. J. (1985). "How to Plan an Accelerated Life Test-Some Practical Guidelines". ASQC Basic References in Quality Control: Statistical Techniques, Vol. 10. 

  15. Seo, S.-K. and Yum, B. J. (1991). "Accelerated Life Test Plans under Intermittent Inspection and Type I Censoring: The Case of Weibull Failure Distribution". Naval Research Logistics, Vol. 38, pp. 1-22. 

  16. Seo, S.-K. (2014). "New Accelerated Life Test Plans for Weibull and Lognormal Lifetime Distributions". Journal of Applied Reliability, Vol. 14, pp. 182-190. 

  17. Nelson, W. and Meeker, W. Q. (1978). "Theory for Optimum Accelerated Censored Life Tests for Weibull and Extreme Value Distributions". Technometrics, Vol. 20, pp. 171-177. 

  18. Meeker, W. Q. (1984). "A Comparison of Accelerated Life Test Plans for Weibull and Lognormal Distributions and Type I Censoring". Technometrics, Vol. 26, pp. 157-171. 

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