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ESD 접지선 단선 모니터링 시스템 설계 및 구현
Design and implementation of ESD cable Disconnection Monitoring System 원문보기

한국융합학회논문지 = Journal of the Korea Convergence Society, v.8 no.8, 2017년, pp.77 - 82  

성정모 (공주대학교 컴퓨터공학과) ,  정영석 (공주대학교 컴퓨터공학과) ,  박구락 (공주대학교 컴퓨터공학과)

초록
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디스플레이 제조 공정에서는 패널의 이송 목적으로 컨베이어 시스템이 널리 사용된다. 이 컨베이어에는 정전기로 인한 제품 불량을 예방하기 위해 접지선이 다수 사용되는데, 이송 롤러의 회전 운동이나 말림 등의 원인으로 접지선이 단선되어 제품 불량으로 이어지는 경우가 빈번히 발생된다. 이런 문제 해결을 위해 접지선의 단선을 실시간으로 검출 가능한 시스템의 필요성이 커지고 있다. 따라서 본 논문에서는 컨베이어 구동부와 패널의 마찰로 발생되는 ESD(Electro-Static Discharge) 접지선의 단선 모니터링 시스템을 제안한다. 제안 시스템은 ATmega 2560 및 휘트스톤 브릿지(Wheatstone Bridge) 회로를 이용해 접지선의 단선 및 탈조 검출이 가능한 모니터링 시스템으로써, 접지선의 단선을 즉시 검출해 조치할 수 있으므로, 정전기로 인한 제품의 불량률을 줄일 수 있다. 본 논문에서 제안한 시스템은 접지선이 사용되는 산업의 생산 및 시험 장비에 적용 가능할 것으로 기대된다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In the splay manufacturing process, conveyor systems are widely used for conveying panels. In this conveyor, a large number of grounding lines are used in order to prevent a product failure due to static electricity. In many cases, the grounding line is disconnected due to the rotation of the transp...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 따라서 본 논문에서는 MCU 와 불평형 브릿지 (Unbalanced Bridge) 회로를 이용해 정전기 방출 접지선의 단선 및 탈조 검출이 가능한 ESD 방지용 접지 단선 모니터링 시스템의 구성 및 알고리즘을 기술하고 성능을 평가하였다. 본 논문의 구성은 다음과 같다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
MCU의 역할은? MCU 는 사람의 두뇌가 인체를 조정하듯 전자 회로 및 전자 기기의 조작이나 특정 시스템을 제어하는 역할을 수행한다. 본 논문에서 제안된 시스템은 Atmel 사에서 개발한 ATmega 2560을 사용했고, 다음 그림과 같은 하드웨어 구조를 가진다.
접지선이 단선되어 제품 불량으로 이어지는 문제를 해결하기 위해 필요성이 커지고 있는 것은? 이 컨베이어에는 정전기로 인한 제품 불량을 예방하기 위해 접지선이 다수 사용되는데, 이송 롤러의 회전 운동이나 말림 등의 원인으로 접지선이 단선되어 제품 불량으로 이어지는 경우가 빈번히 발생된다. 이런 문제 해결을 위해 접지선의 단선을 실시간으로 검출 가능한 시스템의 필요성이 커지고 있다. 따라서 본 논문에서는 컨베이어 구동부와 패널의 마찰로 발생되는 ESD(Electro-Static Discharge) 접지선의 단선 모니터링 시스템을 제안한다.
정전기로 인해 야기되는 문제점은? 정전기는 순간 전압이 수 mV에서 수 KV 로 초고밀도 직접회로, 연 산화 막 (Si O2)이나 고절연체가 사용되는 반도체(ULSI), 평판 디스플레이인 TFT-LCD (Thin film Transistor Liquid Crystal Display) OLED(Organic Light Emitting Diodes) 의 소자 및 마이크로 칩에 열파손(Thermal Breakdown), 기화(Vaporization of Metal) 등의 문제를 발생시켜 생산성을 저하시키는데[8], 컨베이어 시스템의 패널 이송 과정에서 발생되는 정전기의 고장 및 장해의 대부분은 도체가 대전된 결과로 다음의 그림[Fig. 1]과 같이 불꽃방전에 의해 발생된다[9].
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참고문헌 (15)

  1. C. H. Lee, H. K. Jung, "A study on the Next Generation User Attitude of Plexible Display Device Market", Research Bulletin of Package Culture Design, No. 46, pp. 139-146, 2016. 

  2. S. H. Song, "The Standard Execution & Economic Evolution for Electrostatic Discharge and the States of the Industry" Journal of Standards and Standardization , pp.20-32, 2011. 

  3. H. J. Jeon, C. W. PARK, I. T. LIM, "Flow Analysis around the Roller Conveyor in a Clean Room", Proceedings of the Society of Air-conditioning and refrigerating engineers of Korea, pp. 1507-1512, 2009. 

  4. K. S. Choi, S. W. Choi, "Fire and explosion prevention by electrostatic discharge", The Proceedings of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers, Vol. 29, No. 2, pp. 3-5, 2015. 

  5. S. M. Hwang,Y. B. Jung,C. H, Kim,K. H. Lee, "Failure Analysis and Solution of ESD for Amplifier Used in Telecommunication", Journal of Applied Reliability, Vol. 11, No. 3, pp. 251-265, 2011. 

  6. D. H. Lee, "Flow Analysis around the Roller Conveyor in a Clean Room", Proceedings of the KACA Conference , Vol. 24, No. 4, pp. 11-23, 2011. 

  7. K. S. Park, D. W. Choi, H. Y. Kang,J. H. Lee, J. I. Park, "Development of a High Energy Ignition System Using Corona Discharge", Transactions of KSAE, Vol. 23, No. 6, pp.650-655, 2015. 

  8. C. H. Yi, S. H. Jun., "Development of The System of Clearing Static Electricity with A Fan in the VLSI Device", The Institute of Electronics Engineers of Korea - IE , Vol. 46, No. 3, pp. 26-32, 2009. 

  9. http://kepco.pe.kr/technote/read.cgi?boardan03&y_number49&nnew1 

  10. S. M. Lee, P. D. Cho, "Study on the Utilization of Common Grounding for Communications Facilities", Electronics and telecommunications trends, Vol. 19, No. 4, pp. 119-126, 2004. 

  11. K. W. Lee, "An electric fan with voice recognition using ATmega2560", journal of the institute of industrial technology and development Kwangdong university, Vol., No. 29, pp. 120-125, 2012. 

  12. J. W. Park, B. M. YANG, K. H. MOON, "Analysis of Accuracy of Fault Location using Murray Loop", Proceedings of the KIEE Conference, pp. 533-534, 2011. 

  13. Y. J. Kim, C. J. Yang, H. S. Kim, "Floating Memristor Emulator Circuit", Journal of The Institute of Electronics and Information Engineers , Vol.52, No. 8, pp. 49-58, 2015. 

  14. Y. S. Song, S. M. Park, Y. M. Kim, "A new firmware protocol for SPI targeted to low cost embedded applications", Journal of Korea Multimedia society, pp.260-262, 2009 

  15. E. S. Song, Y. H. Kim, J. K. Jung, "Evaluation for Standard Current Transformers and Current Transformers under Test Using Precise Standard Resistors", Proceedings of the KIEE Conference, pp. 2083-2084, 2009. 

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