$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Color Line Scan Camera를 위한 고속 신호처리 하드웨어 시스템 구현
Implementation of the high speed signal processing hardware system for Color Line Scan Camera 원문보기

한국정보통신학회논문지 = Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering, v.21 no.9, 2017년, pp.1681 - 1688  

박세현 (Department of Electronic Engineering, Andong National University) ,  금영욱 (College of Engineering 1st, Andong National University)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

본 논문에서는 FPGA와 Nor-Flash를 사용하여 컬러 라인 스캔 카메라를 위한 고속 신호처리 하드웨어 시스템을 구현하였다. 기존의 시스템에서는 소프트웨어를 기반으로 한 고속 DSP가 적용되어 왔고 주로 RGB 개별 논리에 의해 결함을 검출하는 방법이었지만 본 논문에서는 RGB-HSL 변환기, FIFO, HSL 풀-컬러 결함 디코더 및 이미지 프레임 버퍼로 구성된 하드웨어 기반의 결함 검출기를 제안하였다. 결함 검출기는 RGB에서 HSL로의 색상 공간 변환을 위한 하드웨어 기반 룩업테이블과 4K HSL 풀-컬러 결함 디코더로 구성되어 있다. 또한 단일 라인 데이터 기반의 로컬 픽셀 처리 대신 2차원 배열 구조의 이미지 단위 처리를 위해 라인 데이터 축적용 이미지 프레임을 포함한다. 설계된 시스템을 기존의 곡물 선별기에 적용하여 땅콩을 대상으로 선별해 본 결과 효과적임을 알 수 있었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, we implemented a high-speed signal processing hardware system for Color Line Scan Camera using FPGA and Nor-Flash. The existing hardware system mainly processed by high-speed DSP based on software and it was a method of detecting defects mainly by RGB individual logic, however we sugg...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 본 논문에서는 FPGA 및 Nor-Flash를 적용하여 컬러라인 스캔 카메라를 위한 고속 신호처리 하드웨어 시스템을 구현하였다.
  • 본 논문은 컬러 라인 스캔 카메라를 위한 고속 신호처리 하드웨어 시스템 구현에 관한 것으로 세부내용은 다음과 같다.
  • 라인 스캔 카메라의 검출 대상은 다양한 컬러의 조합으로 구성되어 있다. 지금까지의 방식은 개별 R,G,B 결함 분포들 간의 논리 회로적인 조합(논리곱/논리합/논리부정/배타적 논리합)만으로 검출대상을 규정하였지만 실제 결함은 개별 R,G,B 결함 분포가 아닌 픽셀 단위의 독립적 조합으로 구성되어 있으므로 본 논문에서는 풀-컬러 결함 디코더 방식의 하드웨어로 불량을 검출하고자 한다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
라인 스캔 카메라는 주로 어디에서 사용되는가? 라인 스캔 카메라는 일정한 속도로 움직이는 대상을 촬영하거나 카메라를 일정한 속도로 움직여 정지된 대상을 촬영하는데 이용되며, 한 번에 한 라인씩 이미지 데이터를 획득해서 고속으로 신호처리를 수행한다. 라인 스캔 카메라는 생산 공정 내에서 결함을 직접 확인하는 데 유용한 도구로서 주로 반도체, 섬유원단, 종이,플라스틱, 곡물 등의 결함 검출 및 분류하는 시스템에 사용된다[1,2].
라인 스캔 카메라에 사용되는 CCD 센서의 단점은 무엇인가? 라인 스캔 카메라에 사용되는 CCD(Charge Coupled Device) 센서의 경우 단위 픽셀 사이즈가 커서 다이나믹 레인지가 크고, 높은 필-팩터를 가지므로 감도 또한 우수한다. 반면 라인 스캔 카메라와 수직한 방향으로 물체를 이동시켜야 하고 이동 속도 또한 일정해야 정확한 영상을 얻을 수 있다는 단점이 있다. 아울러 고속으로 스캔을 하므로 획득되는 이미지 데이터양 또한 방대하므로 고속 신호처리가 필수적으로 동반되어야 한다[4,5].
본 연구에서 제안한 결함 검출기의 구성 요소는 무엇이 있는가? 기존의 시스템에서는 소프트웨어를 기반으로 한 고속 DSP가 적용되어 왔고 주로 RGB 개별 논리에 의해 결함을 검출하는 방법이었지만 본 논문에서는 RGB-HSL 변환기, FIFO, HSL 풀-컬러 결함 디코더 및 이미지 프레임 버퍼로 구성된 하드웨어 기반의 결함 검출기를 제안하였다. 결함 검출기는 RGB에서 HSL로의 색상 공간 변환을 위한 하드웨어 기반 룩업테이블과 4K HSL 풀-컬러 결함 디코더로 구성되어 있다. 또한 단일 라인 데이터 기반의 로컬 픽셀 처리 대신 2차원 배열 구조의 이미지 단위 처리를 위해 라인 데이터 축적용 이미지 프레임을 포함한다. 설계된 시스템을 기존의 곡물 선별기에 적용하여 땅콩을 대상으로 선별해 본 결과 효과적임을 알 수 있었다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (8)

  1. J. P. Yun, "A Micro-defect Detection of Cold Rolled Steel," Journal of Institute of Control, Robotics and Systems, vol. 22, no. 4, pp. 247-252, Apr. 2016. 

  2. Y. S. Jung, K. H. Park, "O-ring Size Measurement Based on a Small Machine Vision Inspection Equipment," Journal of the Korea Industrial Information System Research, vol. 19, no. 4, pp. 41-52, Aug. 2014. 

  3. R. S. Satake, Development and Designing of a Spectro-Separator for Rice Applications, 1st ed. Seoul:Dept. of Agricultural Engineering Press, 2007. 

  4. G. C. Holst and T. S. Lomheim, CMOS/CCD Sensors and Camera Systems, 2nd ed. Bellingham, WA:SPIE Press, 2011. 

  5. N. R. Waltham, "CCD and CMOS sensors," in Observing Photons in Space, 2nd ed. New York, NY: Springer, ch. 23, pp. 423-442, 2013. 

  6. P. M. Nishad, R. M. Chezian, "Various Colour Spaces And Colour Space Conversion Algorithms," Journal of Global Research in Computer Science, vol. 4, no. 1, pp. 44-48, Jan. 2013. 

  7. S. H. Park, VHDL for Hardware Engineer, 2nd ed. Seoul:Green Press, 1999. 

  8. Altera Corporation, Cyclone IV Device Handbook, vol 1, San Jose, CA:Altera, 2016. 

저자의 다른 논문 :

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로