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0.65Pb(Zr1-xTix)O3-0.35Pb(Zn1/6Ni1/6Nb2/3)O3 세라믹의 압전 특성 및 압전 에너지 하베스터 적용
Piezoelectric Properties of 0.65Pb(Zr1-xTix)O3-0.35Pb(Zn1/6Ni1/6Nb2/3)O3 Ceramics and Their Application to Piezoelectric Energy Harvester 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.31 no.4, 2018년, pp.216 - 220  

조소라 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터) ,  김대수 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터) ,  조유리 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터) ,  손신중 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터) ,  강형원 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터) ,  남산 (고려대학교 신소재공학과) ,  한승호 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The piezoelectric properties of $0.65Pb(Zr_{1-x}Ti_x)O_3-0.35Pb(Zn_{1/6}Ni_{1/6}Nb_{2/3})O_3$ ($PZT_x-PZNN$) ceramics with $0.530{\leq}x{\leq}0.555$ were investigated for application to piezoelectric energy harvesters. Although a morphotropic phase boundary (MPB) was...

주제어

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문제 정의

  • 본 논문에서는 압전 에너지 하베스터 적용을 위한 0.65Pb(Zr 1-xTix)O3 -0.35Pb(Zn1/6Ni 1/6Nb2/3)O3 (PZT-PZNN, 0.530≤x≤0.555) 조성에서 FOM이 최대가 되는 Ti 함량을 찾고자 하였다.
  • 압전 에너지 하베스터 적용을 위하여 PZTx-PZNN (0.530≤x≤0.555) 세라믹에서 d33×g33가 최대가 되는 조성을 찾고자 하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
압전 에너지 하베스터의 높은 출력 밀도를 얻기 위해서는 무엇이 필요한가? 압전 세라믹은 압전 에너지 하베스터 구현을 위한 중요한 구성요소로서, 압전 에너지 하베스터의 높은 출력 밀도를 얻기 위해서는 압전 세라믹의 FOM (figure of merit)이 높아야 한다고 보고되었다. FOM은 에너지 변환효율에 대한 특성 값으로 압전 전하 상수(d33)와 압 전 전압 상수(g33)의 곱으로 나타내어지는데, 현재 대표 적으로 상용화되어 쓰이고 있는 Pb(Zr,Ti)O3 (PZT) 계열의 압전 세라믹이 높은 압전 특성 및 FOM을 가지는 것으로 알려져 있다 [1-5].
에너지 하베스팅 기술에 기대할 수 있는 점은 무엇인가? 주변의 버려지는 열, 빛, 진동 등 다양한 에너지를 활 용하는 에너지 하베스팅 기술이 최근 많은 관심을 받고 있다. 이러한 버려지는 에너지원을 활용하여 배터리를 교체 또는 생략할 수 있어 시스템의 수명과 활용도를 증가시킬 수 있을 뿐만 아니라 배터리 처분에 의한 주 변 환경 이슈를 해결할 수 있어 매우 획기적인 기술이라고 할 수 있다. 다양한 주변 에너지원 중에서 기계적 에너지를 전기에너지로 전환할 수 있는 압전 에너지 하베스팅(piezoelectric energy harvesting)은 wireless sensor node와 같은 작은 전자제품의 전원을 충분히 제공할 수 있어 최근 많은 주목을 받고 있다.
압전 에너지 하베스팅이 최근 많은 주목을 받는 이유는 무엇인가? 이러한 버려지는 에너지원을 활용하여 배터리를 교체 또는 생략할 수 있어 시스템의 수명과 활용도를 증가시킬 수 있을 뿐만 아니라 배터리 처분에 의한 주 변 환경 이슈를 해결할 수 있어 매우 획기적인 기술이라고 할 수 있다. 다양한 주변 에너지원 중에서 기계적 에너지를 전기에너지로 전환할 수 있는 압전 에너지 하베스팅(piezoelectric energy harvesting)은 wireless sensor node와 같은 작은 전자제품의 전원을 충분히 제공할 수 있어 최근 많은 주목을 받고 있다.
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참고문헌 (12)

  1. S. Priya, IEEE Trans. Ultrason. Eng., 57, 2610 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1109/TUFFC.2010.1734] 

  2. I. T. Seo, Y. J. Cha, I. Y. Kang, J. H. Choi, S. Nahm, T. H. Seung, and J. H. Paik, J. Am. Ceram. Soc., 94, 3629 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2011.04817.x] 

  3. R. A. Islam and S. Priya, J. Am. Ceram. Soc., 89, 3147 (2006). [DOI: https://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2006.01205.x] 

  4. Y. J. Cha, I. T. Seo, I. Y. Kang, S. B. Shin, J. H. Choi, S. Nahm, T. H. Seung, and J. H. Paik, J. Appl. Phys., 110, 084111 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3653274] 

  5. R. A. Islam and S. Priya, Appl. Phys. Lett., 88, 032903 (2006). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2166201] 

  6. C. H. Choi, I. T. Seo, D. Song, M. S. Jang, B. Y. Kim, S. Nahm, T. H. Sung, and H. C. Song, J. Eur. Ceram. Soc., 33, 1343 (2013). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2012.12.011] 

  7. T. G. Lee, H. J. Lee, S. W. Kim, D. H. Kim, S. H. Han, H. W. Kang, C. Y. Kang, and S. Nahm, J. Eur. Ceram. Soc., 37, 3935 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2017.05.029] 

  8. C. J. Jeon, H. N. Hwang, Y. H. Jeong, J. S. Yun, J. H. Nam, J. H. Cho, J. H. Paik, J. B. Lim, S. Nahm, and E. S. Kim, J. Korean Phys. Soc., 63, 1772 (2013). [DOI: https://doi.org/10.3938/jkps.63.1772] 

  9. T. G. Lee, H. J. Lee, D. H. Kim, H. B. Xu, S. J. Park, J. S. Park, S. Nahm, C. Y. Yoon, and S. J. Yoon, J. Eur. Ceram. Soc., 36, 4049 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2016.07.014] 

  10. C. W. Ahn, S. Y. Noh, S. Nahm, J. Ryu, K. Uchino, S. J. Yoon, and J. S. Song, Jpn. J. Appl. Phys., 42, 5676 (2003). [DOI: https://doi.org/10.1143/JJAP.42.5676] 

  11. C. H. Nam, H. Y. Park, I. T. Seo, J. H. Choi, M. R. Joung, S. Nahm, H. J. Lee, Y. H. Kim, and T. H. Sung, J. Am. Ceram. Soc., 94, 3442 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2011.04538.x] 

  12. S. Mahajan, C. Prakash, and O. P. Thakur, J. Alloys Compd., 471, 507 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2008.04.046] 

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