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NTIS 바로가기태양광발전학회 = Bulletin of the Korea Photovoltaic Society, v.4 no.2, 2018년, pp.14 - 24
오원욱 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터) , 박노창 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터) , 천성일 (전자부품연구원 융복합전자소재연구센터)
The potential induced degradation (PID) phenomenon of crystalline silicon photovoltaic (PV) modules has been often found in outdoor PV systems until recently since firstly reported in 2010. Many studies have been conducted about the mechanism and the preventive methods, but systematic diagnosis of t...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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실리콘 태양광 모듈에서 발생하는 PID(potential induced degradation)는 어떤 현상인가? | 결정질 실리콘 태양광 모듈에서 발생하는 potential induced degradation(PID)는 2010년 최초 보고된 이후로 최근까지 옥외 태양광 발전시스템에서 종종 발견되는 열화의 한 종류로 현상, 메커니즘, 해결 방법에 관한 연구가 활발히 진행되어 왔다.[4-8] PID는 셀과 프레임의 전압차에 의해서 모듈이 직렬 연결된 스트링의 (-) 지역의 모듈에만 유리로부터 Na 이온이 태양전지의 PN 접합으로 이동하여 누설전류가 발생하는 현상이다.[8] 초기에는 병렬저항이 감소되고, 이후 개방전압(open circuit voltage, Voc) 저하 및 fill fater(FF) 손실을 동반하게 된다. | |
Dark I-V 분석이 Light I-V 측정보다 활용도가 낮은 이유는 무엇인가? | 이를 위해서는 먼저 태양전지와 모듈의 Dark I-V 특성을 살펴볼 필요가 있다. 태양전지의 주된 분석기법 중에 하나인 Dark I-V 분석은 대면적 모듈화하면서 균일한 태양전지의 개별 특성 보다는 전체 모듈화된 완제품의 특성 관찰이 중요하기 때문에 Light I-V 측정에 비하여 활용도가 낮다. 태양광 모듈의 Dark I-V 분석과 관련된 문헌 조사 결과, 1997년 미국의 Sandia National Laboratories의 D. | |
설치된 지 수년 후에 PID에 의한 출력 저하현상이 관찰되는 이유는 무엇인가? | 그럼에도 불구하고 이전 설치된 특정 모듈에서 설치된 지 수년 후에 PID에 의한 출력 저하현상이 관찰된다. 그 이유는 발전량을 모니터링하지 않거나, 기본적인 모니터링 정보만 확인하고 있기 때문에, 급격한 출력 저하가 발생한 경우에만 PID에 의한 열화를 인지하는 경향이 있다. 특히, 소규모발전 시스템의 경우 발전성능을 파악할 수 있는 경사면 일사량과 모듈의 온도를 계측하지 않기 때문에 열화를 인지하는데 시간이 소요된다. 단순한 발전량과 발전시간으로 판별하는 경우 일별, 월별, 연별 외부 환경의 변화가 심하기 때문에 정량적으로 비교하는데 무리가 있다. |
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