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문제 정의

  • 물론, 평균값 등을 MIL-HDBK- 217F에 적용할 수는 있으나 이는 수명 추정 에 큰 오차를 발생시키게 된다. 따라서 본장에서는 전력부의 수명평가를 위한 기술을 단계별로 소개한다.
  • 본 특집원고에서는 전력변환시스템의 수명평가 기술에 대해서 간단하게 소개하였다. 고가의 대용량 전력변환시스템의 경우 수명가속시험이나 실증을 통한 수명평가는 적용하기 어렵기 때문에, 부품의 고장률이나 수명 등을 기반으로 전체 시스템의 수명을 추정하는 방법을 사용한다.
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참고문헌 (7)

  1. MIL-HDBK-217F, Military handbook: reliability prediction of electronic equipment(02-DEC-1991) 

  2. F. Obeidat and R. Shuttleworth, "Reliability prediction of PV inverters based on MILHDBK- 217F N2," 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), pp. 1-6, Jun. 2015. 

  3. A. S. Bahman, K. Ma, P. Ghimire, F. Iannuzzo, and F. Blaabjerg, “A 3-D-Lumped thermal network model for long-term load profiles analysis in high-power IGBT modules,” IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics, Vol. 4, No. 3, pp. 1050-1063, Sep. 2016. 

  4. R. Wu, P. D. Reigosa, F. Iannuzzo, L. Smirnova, H. Wang, and F. Blaabjerg, “Study on oscillations during short circuit of mw-scale igbt power modules by means of a 6-kA/1.1- kV nondestructive testing system,” IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics, Vol. 3, No. 3, pp. 756-765, Sep. 2015. 

  5. L. Smirnova, J. Pyrhonen, F. Iannuzzo, R. Wu, and F. Blaabjerg, "Round busbar concept for 30 nH, 1.7 kV, 10 kA IGBT non-destructive short-circuit tester," Power Electronics and Applications (EPE'14-ECCE Europe), 2014 16th European Conference on, pp. 1-9, Aug. 26-28, 2014. 

  6. H. Wang and F. Blaabjerg, “Reliability of capacitors for DC-link applications in power electronic converters-an overview,” IEEE Transacrtion on Industry Applications, Vol. 50, No. 5, pp. 3569-578, Sep. 2014. 

  7. H. Huang and P. A. Mawby, “A lifetime estimation technique for voltage source inverters,” IEEE Transactions on Power Electronics, Vol. 28, No. 8, pp. 4113-4119, Aug. 2013. 

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