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비파괴검사를 위한 연속형 테라헤르츠 파 기반의 영상화 기술
Imaging Technique Based on Continuous Terahertz Waves for Nondestructive Inspection 원문보기

Journal of sensor science and technology = 센서학회지, v.27 no.5, 2018년, pp.328 - 334  

오경환 (한양대학교 융합기계공학부) ,  김학성 (한양대학교 기계공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The paper reviews an improved continuous-wave (CW) terahertz (THz) imaging system developed for nondestructive inspection, such as CW-THz quasi-time-domain spectroscopy (QTDS) and interferometry. First, a comparison between CW and pulsed THz imaging systems is reported. The CW-THz imaging system is ...

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문제 정의

  • 일정 범위에서의 주파수 변조 (Frequency sweep)를 통해 얻은 주파수 영역 정보를 Fourier transform을통해시간영역정보를얻는 Quasi timedomain spectroscopy (QTDS) 영상화 기법과 간섭계를 이용한 영상화 기법 등이 있다. 본 논문에서는 기존의 연속형 테라헤르츠 영상화 기법과 펄스형 테라헤르츠 영상화 기법의 차이점을 비교하고, 최근 개발된 깊이 정보를 얻을 수 있는 영상화 기법에 관해 알아보고자 한다.
  • 본 논문에서는 연속형 테라헤르츠 영상화 시스템과 펄스형 테라헤르츠 영상화 시스템의 장단점을 비교해보았고, 이러한 특성들을 잘 고려하여 각각의 어플리케이션에 적합한 시스템을 적용해야 한다는 것을 확인하였다. Femtosecond laser의 사용으로 인해 가격이 비싸며 상대적으로 복잡성을 가지고 있는 펄스형 테라헤르츠 시스템은 연속형 테라헤르츠 시스템보다 보다 많은 정보를 제공한다는 장점이 있다.
  • 대표적으로 광신호 지연 라인 (Optical Delay Line, ODL)을 적용하여 주파수 변조(frequency sweep)을 이용한 Quasi time-domain spectroscopy(QTDS) 기법과 간섭계를 이용한 기법이 있다. 이러한 연속형 테라헤르츠 시스템을 응용한 기법들에 대해 알아보고자 한다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
테라헤르츠 파란 무엇인가? 이러한 단점들을 극복하기 위한 기술로써 최근 테라헤르츠 파 (Terahertz wave, THz)를 이용한 비파괴 검사에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 테라헤르츠 파란, 전자기 스펙트럼에서 마이크로파와 적외선 중간에 위치하고 있는 100 GHz에서 10 THz 사이의 주파수를 갖는 전자기파를 의미한다. 따라서 마이크로파의 장점인 투과성과 적외선이나 가시광선의 직진성을 모두 가지고 있다.
기존의 비파괴 검사 기법의 한계는 무엇인가? 그러나 이러한 검사법을 위와 같은 산업에 적용하기에는 한계점이 존재한다. 초음파 검사법은 물과 같은 중간 매질을 필요로 하며, X-선 검사법의 경우 안전 문제로 인해 추가적인 안전 설비들을 필요로 하는 단점을 가지고 있다. 극초단파 검사법의 경우, 긴 파장으로 인해 공간 분해능이 낮다는 단점이 있다 [1-3]. 이러한 단점들을 극복하기 위한 기술로써 최근 테라헤르츠 파 (Terahertz wave, THz)를 이용한 비파괴 검사에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다.
연속형 테라헤르츠 파의 장점은 무엇인가? 이러한 단점을 개선하고자, 연속형 테라헤르츠를 이용한 비파괴 영상화 기법에 관한 연구가 많이 진행되고 있다. 왜냐하면, 연속형 테라헤르츠 파는 펄스형 테라헤르츠 파에 비해 낮은 시스템 가격을 가지고 있으며 시스템 구성이 단순하며 소형화가 가능하기 때문이다 [7]. 이러한 장점으로 인해 연속형 테라헤르츠 시스템을 응용한 영상화 기법들이 많이 개발되고 있다.
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참고문헌 (15)

  1. A. Ditali, M. Ma, and M. Johnston, "X-ray inspection-induced latent damage in DRAM", Reliab. Phys. Symp. Proc., 2006. 44th Ann., IEEE Int., IEEE, pp. 266-269, City, 2006. 

  2. G.-M. Zhang, D. M. Harvey, and D. R. Braden, "Microelectronic package characterisation using scanning acoustic microscopy", NDT E Int., Vol. 40, No. 8, pp. 609-617, 2007. 

  3. R. Zoughi, C. Huber, N. Qaddoumi, E. Ranu, V. Otashevich, R. Mirshahi, S. Ganchev, and T. Johnson, "Real-time and on-line near-field microwave inspection of surface defects in rolled steel", Microw. Conf. Proc., Vol. 3, No. xx, pp. 1081-1084, 1997. 

  4. B. S. Ferguson, H. Liu, S. Hay, D. Findlay, X. C. Zhang, and D. Abbott, "In vitro osteosarcoma biosensing using THz time domain spectroscopy", Int. Soc. Opt. Photonics, Vol. 5275, No. xx, pp. 304-317, 2004. 

  5. M. Yamashita, M. Usami, K. Fukushima, R. Fukasawa, C. Otani, and K. Kawase, "Component spatial pattern analysis of chemicals by use of two-dimensional electro-optic terahertz imaging", Appl. opti., Vol. 44, No. 25, pp. 5198-5201, 2005. 

  6. K. McClatchey, M. T. Reiten, and R. A. Cheville, "Time resolved synthetic aperture terahertz impulse imaging", Appl. phys. lett., Vol. 79, No. 27, pp. 4485-4487, 2001. 

  7. N. Karpowicz, H. Zhong, J. Xu, K. I. Lin, J. S. Hwang, and X. C. Zhang, "Comparison between pulsed terahertz time-domain imaging and continuous wave terahertz imaging", Semicond. Sci. Technol., Vol. 20, No. xx, pp. 293-299, 2005. 

  8. C. H. Ryu, S. H. Park, D. H. Kim, K. Y. Jhang, and H. S. Kim, "Nondestructive evaluation of hidden multi-delamination in a glass-fiber-reinforced plastic composite using terahertz spectroscopy", Compos. Struct., Vol. 156, No. xx, pp. 338-347, 2016. 

  9. M. Usami, T. Iwamoto, R. Fukasawa, M. Tani, M. Watanabe, and K. Sakai, "Development of a THz spectroscopic imaging system", Phys. Med. Biol., Vol. 47, No. 21, pp.3749-3753, 2002. 

  10. M. Scheller and M. Koch, "Terahertz quasi time domain spectroscopy", Opt. Express, Vol. 17, No. 20, pp. 17723-17733, 2009. 

  11. R. B. Kohlhaas, A. Rehn, S. Nellen, M. Koch, M. Schell, R. J. B. Dietz, and J. C. Balzer, "Terahertz quasi time-domain spectroscopy based on telecom technology for 1550 nm", Opt. Express, Vol. 25, No. 11, pp. 12851-12859, 2017. 

  12. J. S. Yahng, C. S. Park, H. D. Lee, C. S. Kim, D. S. Yee, "High-speed frequency-domain terahertz coherence tomography", Opt. Express, Vol. 24, No. 2, pp. 1053-1061, 2016. 

  13. Y. Wang, Z. Zhao, Z. Chen, L. Zhang, K. Kang, and J. Deng, "Continuous-wave terahertz phase imaging using a far-infrared laser interferometer", Appl. opt., Vol. 50, No. 35, pp. 6452-6460, 2011. 

  14. F. P. Mezzapesa, M. Petruzzella, M. Dabbicco, H. E. Beere, D. A. Ritchie, M. S. Vitiello, and G. Scamarcio, "Continuous-wave reflection imaging using optical feedback interferometry in terahertz and mid-infrared quantum cascade lasers", IEEE Trans. Terahertz Sci. and Technol., Vol. 4, No. 5, pp. 631-633, 2014. 

  15. X. Wang, L. Hou, and Y. Zhang, "Continuous-wave terahertz interferometry with multiwavelength phase unwrapping", Appl. opt., Vol. 49, No. 27, pp. 5095-5102, 2010. 

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