$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

전계방출 디지털 엑스선 소스 및 구동 기술 원문보기

인포메이션 디스플레이 = Information display, v.19 no.4, 2018년, pp.10 - 17  

송윤호 (한국전자통신연구원(ETRI) ICT소재부품연구소 신소자연구그룹)

초록이 없습니다.

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

제안 방법

  • . 개발되고 있는 전계방출 디지털 엑스선 소스의 구조, 구동방법, 응용에 대한 동향을 알아보았다. 전계 방출 디지털 엑스선 소스는 현재 120년 이상 존속되어온 열음극 엑스선 소스의 대체와 더불어 의료 검잔/치료, 산업 및 비파괴 검사, 보안 검사 등에서 새로운 엑스선 영상모달리티 (modality)를 창출하는 것을 목표로 활발히 연구되고 있다.
  • 특성을 보여준다. 발생된 펄스 엑스선을 ms 이하 영역에서 직접 측정할 수 있는 계측기가 없기에, [그림 6]의 ACC 구동 차트에서 언급하였듯이 캐소드 노드 전압을 측정하여 반응시간을 분석하였다. 그림에서 보듯이 일반적인 ACC 구동의 경우 반응시간은 수 ms 인 반면, 고속 ACC 구동은 400V의 푸시압 전압 하에서 수us 정도로 짧다.
  • 전계방출 디지털 엑스선 소스의 고속 ACC 구동 특성을 확인하기 위해서 [그림 5]에서 언급된 완전 진공 밀봉된 전계방출 디지털 엑스선 튜브의 기본적인 전기적 특성을 먼저 분석하였다. [그림 기은 아노드 전압 円=40kV 하에서 전계방출 디지털 엑스선 튜브의 게이트 전압에 따른 아노드 전류와 엑스선 흡수 선량비 (absorbed dose rate)를 보여준다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (34)

  1. R. Behling, "Modern Diagnostic X-Ray Sources", CRC Press, 2015. 

  2. C. A. Spindt, J. Appl. Phys., 39, 3504 (1968). 

  3. W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park, and J. M. Kim, Appl Phys. Lett,. 75, 3129 (1999). 

  4. J. Dijon, A. Fournier, M. Levis, R. Meyer, C. Bridoux, B. Montmayeul, F. Muller, P. Nicolas, D. Sarrasin, J. R. Adamski, J. L. Bellanger, D. Bellissens, M. Lefort, and J. L. Ricaud, SID Symposium Digest, 38, 1313 (2007). 

  5. J.-W. Jeong, D.-J. Kim, J.-T. Kang, J.-S. Kim, and Y.-H. Song, Proc. of the 14th International Display Workshops 2007, 2189 (2007). 

  6. Y. C. Choi, J. W. Lee, S. K. Lee, M. S. Kang, C. S. Lee, K. W. Jung, J. H. Lim, J. W. Moon, M. I. Hwang, I. H. Kim, Y. H. Kim, B. G. Lee, H. R. Seon, S. J. Lee, J. H. Park, Y. C. Kim, and H. S. Kim, Nanotechnology, 19, 235306 (2008). 

  7. J.-W. Jeong, D.-I. Kim, J.-T. Kang, J.-S. Kim, and Y.-H. Song, Proc. of the 15th International Display Workshops 2008, 2019 (2008). 

  8. J.-W. Jeong, D.-I Kim, J.-T. Kang, J.-W. Kim, and Y.-H. Song, International Meeting on Information Display Digest 2009, 148 (2009). 

  9. J.-W. Jeong, D.-J. Kim, K.-I. Cho, and Y.-H. Song, J. Vac. Sci. Technol,. B27, 1097 (2009). 

  10. Y.-H. Song, D.-I Kim, J.-T. Kang, J.-W. Kim, and J.-W. Jeong, Proc. of the 16th International Display Workshops 2009 , 1455 (2009). 

  11. Y.-H. Song, J.-W. Jeong, D.-J. Kim, CNT-Based FEL for BLU in LCD,In: Y. Saito, editor. Carbon nanotube and related field emitters: Fundamentals and applications: Wiley-VCH; 2010, p. 343-371. 

  12. A. Haga, S. Senda, Y. Sakai, Y. Mizuta, S. Kita, F.Okuyama, Appl. Phys. Lett., 84, 2208 (2004). 

  13. T. Nakazato, M. Nakanishi, S. Kita, F. Okuyama, Y. Shibamoto, T. Otuka, Radiat. Res., 48, 153 (2007). 

  14. F. Okuyama, Miniature X-ray Tubes, In: Y. Saito, editor. Carbon nanotube and related field emitters: Fundamentals and applications: Wiley-VCH; 2010, p. 3-14. 

  15. S. Wang, X. Calderon, R. Peng, E. C. Schreiber, O. Zhou, S. Chang, Appl. Phys. Lett., 98, 213701 (2011). 

  16. X. Qian, R. Rajaram, X. Calderon-Colon, G. Yang, T. Phan, D. S. Lalush, J. Lu, O. Zhou, Med. Phys., 36, 4389 (2009). 

  17. A.Tucker, X. Qian, E. Gidcumb, D. Spronk, F. Sprenger, J. Kuo, S. Ng, J. Lu, O.Zhou, SPIE2012, 2012. 

  18. O. Zhou, X. Calderon-Colon, Carbon nanotubebased field emission X-ray technology, In: Y. Saito, editor. Carbon nanotube and related field emitters: Fundamentals and applications: Wiley-VCH; 2010, p. 417-437. 

  19. S.H. Heo, H. J. Kim, J. M. Ha, S. O. Cho, Nanoscale Res. Lett., 7, 258 (2012). 

  20. J.-W. Jeong, J.-W. Kim, J.-T. Kang, S. Choi, S. Ahn, and Y.-H. Song, Nanotechnology 24, 085201 (2013). 

  21. J.-W. Jeong, J.-T. Kang, S. Choi, J.-W. Kim, S. Ahn, and Y.-H. Song, Appl. Phys. Lett., 102, 023504 (2013). 

  22. J.-T. Kang, J.-W. Kim, J.-W. Jeong, S. Choi, J. Choi, S. Ahn, Y.-H. Song, ETRI J., 35, 1164 (2013). 

  23. J.-W. Kim, J.-W. Jeong, J.-T. Kang, S. Choi, S. Ahn, Y.-H. Song, Nanotechnology 25, 065201 (2014). 

  24. J.-W. Kim, M.-S. Shin, J.-W. Jeong, J.-T. Kang, S. Choi, S. Park, J.-H. Yeon, S. Ahn and Y.-H. Song, IEEE Electron Device Lett., 36 396 (2015). 

  25. J.-W. Kim, J.-W. Jeong, J.-T. Kang, S. Choi, S. Park, M.-S. Shin, S. Ahn, Y,-H, Song, Carbon 82, 245 (2015). 

  26. J.-T. Kang, J.-W. Kim, M.-S Shin, J.-W. Jeong, S. Choi, S. Park, J.H Yeon, S. Ahn, Y.-H. Song, IEEE Electron Device Lett., 36, 1209 (2015). 

  27. Y. C. Choi, J.-T. Kang, S. Park, M.-S. Shin, H. Jeon, J.-W. Kim, J.-W. Jeong and Y.-H. Song, Carbon 100, 302 (2016). 

  28. Y. C. Choi, J.-T. Kang, S. Park, E. Go, H. Jeon, J.-W. Kim, J.-W. Jeong, K.-H. Park, Y.-H. Song, Physica E, 86, 52 (2017). 

  29. H. Jeon, Y. C. Choi, S. Park, J.-T. Kang, E.Go, J.-W. Lee, J.-W. Kim, J.-W. Jeong and Y.-H. Song, Carbon, 119, 371 (2017). 

  30. 송윤호, 인포메이션 디스플레이, 15, 3 (2014). 

  31. 송윤호, 강준태, 김재우, 박소라, 정진우, 전자통신동향분석, 31, 116 (2016). 

  32. 송윤호, 인포메이션 디스플레이, 17, 1 (2016). 

  33. www.vatechkorea.com 

  34. www.vsi.co.kr 

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로