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[국내논문] 반도체 장비상태 모니터링을 위한 SCADA 시스템 구현
SCADA System for Semiconductor Equipment Condition Monitoring 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.18 no.4, 2019년, pp.92 - 95  

이윤지 (명지대학교 공과대학 전자공학과) ,  윤학재 (명지대학교 공과대학 전자공학과) ,  박효은 (명지대학교 공과대학 전자공학과) ,  홍상진 (명지대학교 공과대학 전자공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Automation control and the data for control of industrial equipment for the diagnosis and prediction is a key to success in the 4th industrial revolution. It increases process efficiency and productivity through data collection, realtime monitoring, and the data analysis. However, university and res...

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문제 정의

  • 제조 공정 중 박막은 증착공정을 통해 형성되며, 일반적으로 Chemical Vapor Deposition (CVD)와 Physical Vapor Deposition (PVD)을 통해 이루어진다. 본 논문에서는 고체 물질로부 터 박막을 얻기 위해 물리적인 방법을 사용하여 증착 하는 방법인 PVD의 장비 중 하나인 Sputter를 이용해 시스템을 구현하였다. Sputter는 PVD의 다양한 방법 중 금속 박막 증착 공정으로, 하부 구조가 완성된 반도체 표면에 금속 배선을 형성하는 방법이다.
  • 본 논문에서는 대학 내 연구환경에서 사용하는 릴레이로 구성된 반도체 장비에 제어기인 PLC를 적용하여 PC를 통해 장비 제어 및 데이터를 시각적으로 확인할 수 있는 SCADA 시스템을 구현하였다. 이를 통해 장비 엔지니어와 공정 엔지니어가 공정 중 장비와 공정 오류에 쉽게 대응 할 수 있는 시스템을 구축하였다.
  • 본 논문에서는 반도체 장비인 sputtering system의 챔버 내 진공을 확보하기 위해 펌프와 밸브 스위치를 PLC와 PC를 이용하여 제어하는 방법을 구현했다. Sputter panel에 구성된 스위치를 릴레이를 통해 PLC와 연결해준다.
  • 이를 해결하기 위해 본 논문에서는 릴레이 기반으로 이루어진 반도체 장비인 Sputtering System 에 자동화 제어기인 Programmable Logic Controller (PLC)를 적용하여 PC 기반의 Supervisory Control and Data Acquisition (SCADA) 시스템을 구현하는 방법을 제시한다. 이를 통해 대학 내 환경에서도 데이터를 수집하며 실시간 모니터링이 가능한 환경을 구축하며, 발생하는 오류와 문제를 검출하고 판단하여 신속한 대응이 가능하도록 한다.
  • 이를 해결하기 위해 본 논문에서는 릴레이 기반으로 이루어진 반도체 장비인 Sputtering System 에 자동화 제어기인 Programmable Logic Controller (PLC)를 적용하여 PC 기반의 Supervisory Control and Data Acquisition (SCADA) 시스템을 구현하는 방법을 제시한다. 이를 통해 대학 내 환경에서도 데이터를 수집하며 실시간 모니터링이 가능한 환경을 구축하며, 발생하는 오류와 문제를 검출하고 판단하여 신속한 대응이 가능하도록 한다.
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핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
SCADA는 무엇인가? Supervisory Control and Data Acquisition (SCADA)는 원거리에 있는 다양한 장비의 센서에 네트워크 및 소프트웨어를 설치하여 관리자가 설비와 장비를 감시하고 제어하는 시 스템이다. 대부분의 산업분야에서 필수적으로 사용되며 그 중 장비가 원거리에 분포되어 있는 광범위한 범위의 설비에 적합한 시스템이다.
복잡한 공정 기술로 인해 발생하는 어려움은? 반도체 소자의 미세화로 인해 공정은 더욱 복잡해지고 정교해지고 있다. 복잡한 공정 기술로 인해 공정 중 발생하는 문제점의 발견과 장비의 고장 및 오류의 원인을 발견하는 어려움이 있다. 이는 수율 감소 와 생산성 및 효율성의 문제로 이어진다 [4].
자동화 제어 기술을 활용하여 원거리로 시스템을 감시하고 관리 및 제어하는 시스템의 효과는? 더 나아가 자동화 제어 기술을 활용하여 주요기반시설 및 다양한 산업 분야에서 사용되면서 원거리로 시스템을 감시하고 관리 및 제어하는 시스템이 발전하였다. 이 시스템은 인력 및 비용절감과 공정 효율성과 생산성 증가의 이유로 네트워크와 프로토 콜을 사용하여 장비와의 통신을 통해 다수의 센서와 장비 및 공정 데이터를 수집하고 하나의 화면에서 확인 가능하다 [3]. 데이터를 직접 수기로 입력할 경우 데이터 손실 및 휴먼 에러의 원인이 된다.
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참고문헌 (6)

  1. Xiongwen Zhang "Thermal Analysis of a Cylindrical Lithi-um-ion Battery", Journal of Electrochemical Acta 56, pp. 1246-1255, 2011. 

  2. H. D. Song, S. S. Han, and S. H. Beack, "Analysis of Industry 4.0 Standard and Standardization of Smart Factory in Korea," Journal of Standards, Certification and Safety, 6(4), pp. 47-58, (2016). 

  3. J. P. Park, "Analysis on Success Cases of Smart Factory in Korea: Leveraging from Large, Medium, and Small Size Enterprises," Journal of Digital Convergence, 15(5), pp. 107-115, (2017). 

  4. H. S. Kim and D. G. Park, "Implementation of abnormal behavior detection system based packet analysis for industrial control system security," Journal of Korea Academia-Industrial cooperation Society, 19(4), pp. 47-56, (2018). 

  5. Y. S. Cho, S. M. Lee, H. J. Kim, and S. B. Kim, "Detection of Faulty Equipment Sequence of Multivariate Processes in Semiconductor Manufacturing," Journal of the Korean Institute of Industrial Engineers, 44(5), pp. 325-333, (2018). 

  6. B. K. Sun, K. R. Han, K. W. Rim, "Study on Development of Embedded HMI System for PLC Monitoring," Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea, 42(4), pp. 1-10, (2005). 

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