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NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.33 no.1, 2020년, pp.45 - 49
노성여 (동명대학교 항만물류시스템공학과) , 진상준 (스마트전자 종합연구소) , 이선우 (인하공업전문대학 전기정보과)
In this paper, we prepared miniature fuse fabricated with carbon nanotube (CNT) fiber for the use of low rated current under 1 A and high speed operation under 4ms. CNT fuses were fabricated in the form of universal modular fuse (UMF) with different diameter of CNT fibers defined by multiplying the ...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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과전류 보호소자인 퓨즈는 무엇인가? | 이 중 전기기기에서 발생하는 이상전류는 대부분 회로 내부에 발생한 단락과 아크, 부품 고장 등에 인한 것으로, 이때 전체 회로 저항의 변화는 유입 되는 전류를 변화시킨다 [2]. 과전류 보호소자(over current protector)인 퓨즈는 이런 전기기기의 내부 혹은 외부의 요인에서 시작된 과전류를 가용체의 용단으로 차단해 보호하는 소자이다. 전기기기의 입력 1차 측에서 기기 전체를 보호하는 제품의 메인 퓨즈는 회로 전체가 사용하는 입력 전류에 의해 퓨즈의 정격전류가 결정되며, 보통 소형 전자 제품의 경우 1~15 A, 대형 전기 설비와 시스템, 전기자동차 등의 경우 20~500 A 메인 퓨즈가 사용된다. | |
전기기기에서 발생하는 이상전류는 무엇에 의한 것인가? | 일반적으로 전기기기에서 안정적이고 일정한 전류와 전압은 기기의 정상동작에 필요한 필수 조건이지만, 환경적 요인과 부품 오동작, 요소 단락 등으로 인해 전류와 전압의 이상 상태는 언제든지 발생할 수 있는 위험 요소이다. 이 중 전기기기에서 발생하는 이상전류는 대부분 회로 내부에 발생한 단락과 아크, 부품 고장 등에 인한 것으로, 이때 전체 회로 저항의 변화는 유입 되는 전류를 변화시킨다 [2]. 과전류 보호소자(over current protector)인 퓨즈는 이런 전기기기의 내부 혹은 외부의 요인에서 시작된 과전류를 가용체의 용단으로 차단해 보호하는 소자이다. | |
Cu 가용체가 사용된 동일한 UMF 퓨즈에 대하여 차단용량이 최대 4배로 상승함을 통해 무엇을 판단할 수 있는가? | 이 중 높은 전류에 의해 원자간의 결합이 파괴되어 분말 형태로 비산하는 소재의 산화를 막는 방법이 차단용량 상승을 위해 효과적이며, 때문에 산화도가 높은 순금속보다는 산화에 의한 폭발적인 반응을 줄일 수 있는 합금의 적용이 차단용량 상승 설계에 적용된다, 결과로부터 Cu 가용체가 사용된 동일한 UMF 퓨즈에 대하여 차단용량은 최대 4배가 상승함을 확인할 수 있다. 이는 금속 가용체에서 나타나는 폭발 비산현상과 급격한 산화가 발생하지 않는 것으로 판단할 수 있으며, 요소 부품을 보호하기 위한 돌입 과전류에서 안전을 확보한 것으로 판단할 수 있다. |
E. M Kim and C. Kang, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 31, 427 (2018). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2018.31.6.427]
J. Paukert, Proc. the International Conference on Electric Fuses and their Applications (Liverpool, U.K., 1976) p. 59.
C. K. Ji and K. O. Kim, Definitions for miniature fuses and general requirments for miniature fuse-links (Korea Standards, Korea, 2005) p. 16. [DOI: https://doi.org/10.3403/02644108u]
R. Wilkins and P. M. Mc Ewan, Proc. the Institution of Electrical Engineers, 122, 285 (1975). [DOI: https://doi.org/10.1049/piee.1975.0076]
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오픈액세스 학술지에 출판된 논문
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