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NTIS 바로가기한국결정성장학회지 = Journal of the Korean crystal growth and crystal technology, v.30 no.2, 2020년, pp.66 - 72
나혜인 (한국세라믹기술원 엔지니어링센터) , 박제원 (한국세라믹기술원 엔지니어링센터) , 박재혁 (아이원스) , 김대근 (아이원스) , 최성철 (한양대학교 신소재공학부) , 김형준 (한국세라믹기술원 엔지니어링센터)
The difference of plasma resistance between the CAS glass bulk and coating films were compared. Plasma resistance was confirmed by analyzing the etch rate and the microstructure of the surface when the CAS glass bulk and the glass coating film were etched with CF4/O2/Ar plasma gas. CAS glass coating...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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건식 식각 공정의 특징은? | 이러한 고밀도 고해상도의 제품 제조시 미세한 패턴을 구현하기 위하여 다양한 식각 방법이 적용된다[1-3]. 그 중 건식 식각 공정에서는 반응성 기체의 플라즈마 상태를 이용하여 막질을 화학적 및 물리적 반응으로 식각하여 회로를 구현한다. 이 때 식각 챔버를 이루는 세라믹 부품들의 플라즈마 식각에 대한 내구성 부족으로 인하여 주요한 오염 입자가 발생하게 되고, 이 입자들은 반도체 회로 불량 등의 문제를 야기하는 결함의 원인으로 작용한다[4-8]. | |
소자의 크기를 감소시키는 연구가 필요한 이유는? | 고밀도, 고해상도의 반도체 및 디스플레이 제품이 출 현함에 따라 소자의 크기를 감소시키는 연구의 필요성이 더욱 커지고 있다. 이러한 고밀도 고해상도의 제품 제조시 미세한 패턴을 구현하기 위하여 다양한 식각 방법이 적용된다[1-3]. | |
건식 식각 공정에서 식각 챔버와 관련된 결함의 원인은 무엇인가? | 그 중 건식 식각 공정에서는 반응성 기체의 플라즈마 상태를 이용하여 막질을 화학적 및 물리적 반응으로 식각하여 회로를 구현한다. 이 때 식각 챔버를 이루는 세라믹 부품들의 플라즈마 식각에 대한 내구성 부족으로 인하여 주요한 오염 입자가 발생하게 되고, 이 입자들은 반도체 회로 불량 등의 문제를 야기하는 결함의 원인으로 작용한다[4-8]. |
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