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전기영동형 전자종이 디스플레이에서 전자잉크의 주입 방법 및 구동파형에 따른 전류 특성 분석
Analysis on Current Characteristics According to Injection Method and Driving Waveform in Electrophoretic-Type E-Paper Display 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.33 no.5, 2020년, pp.386 - 392  

이주원 (청운대학교 전자공학과) ,  김영조 (청운대학교 전자공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, the drift current characteristics of charged particles are analyzed for panels fabricated by varying the waveform biasing of the active particle loading method (APLM), which is a method driven by the electrophoretic principle of loading charged particles into a cell of a barrier rib-t...

주제어

표/그림 (7)

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 연구에서는 하전입자 농도를 제어할 수 있는 APLM 의 파형 종류에 따라서 각 sample을 제작한 후 표동 전류를 비교하여 APLM 파형에 따른 하전입자의 운동을 분석하고, 계단파를 구동파형으로 인가할 경우 image force 제거에 미치는 영향을 분석하고자 한다.
  • 각 sample의 셀 내에 주입되어 있는 하전입자의 비율은 흑색 하전입자가 백색 하전입자의 운동에 미치는 영향을 최소화하기 위하여 백색 하전입자의 비율이 매우 높게 제작되었다. 셀 내에 주입된 백색 하전입자들의 특성을 비교하기 위하여 인가되는 전압의 전체 주기에서 음의 반주기에 해당하는 전류 특성을 예로 들어 분석하고자 한다. 2가지의 구동조건에서 모든 주기의 전류 특성은 각 sample에서 거의 비슷하기 때문에 이 주기의 파형과 sample을 선택한 것은 특별한 경우가 아니며 단지 편의성 때문임을 밝힌다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
하전입자들의 이동으로 셀 내에 흐르는 표동 전류를 측정하여 분석할 수 있는 것은 무엇인가? 전기영동의 원리로 이미지를 표시할 때는 외부에서 인가되는 전압에 대응하여 셀 내에는 전계가 형성되고, 하전입자들이 지닌 극성과 상반되는 극성을 갖고 있는 전극으로 이동하게 되는데, 이러한 하전입자들의 이동으로 셀 내에는 표동 전류가 흐르게 된다. 여기서 검출되는 전류를 측정하여 셀 내에 주입되어 있는 하전 입자의 특성을 분석할 수 있다 [13,14].
전자종이란 무엇인가? 전자종이(electronic paper)는 일상생활에서 쉽게 접할 수 있는 책 또는 신문과 같은 종이의 특성을 지니면서, 디스플레이 기능을 할 수 있는 전자장치이다. 전자종이는 여러 디스플레이 기술들로 정보를 표시할 수 있지만, 대표적으로 전기영동의 원리로 운동하는 전자잉크를 동작시켜서 정보를 표시하는 방법을 들 수 있다.
전기영동 원리를 사용하여 정보를 표시하는 방법에는 어떠한 것들이 있는가? 전기영동 원리를 사용하여 정보를 표시하는 전자종이 디스플레이는 컬러를 표현하기 위하여 하전입자의 컬러를 이용하거나, 중성유체의 컬러를 사용하여 정보를 표시할 수 있다 [7,8]. 전기영동 원리를 사용하여 정보를 표시하는 방법은 마이크로 캡슐형과 격벽형이 있다 [9,10].
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참고문헌 (18)

  1. Y. Chen, K. Denis, P. Kazlas, and P. Drzaic, J. Soc. Inf. Disp., 32, 157 (2001). [DOI: https://doi.org/10.1889/1.1831820] 

  2. W. C. Kao, J. J. Liu, and M. I. Chu, J. Disp. Technol., 6, 625 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1109/jdt.2010.2068035] 

  3. S. J. Telfer and M. D. McCreary, J. Soc. Inf. Disp., 47, 574 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1002/sdtp.10736] 

  4. S. Mukherjee, W. L. Hsieh, N. Smith, M. Goulding, and J. Heikenfeld, Appl. Opt., 54, 5603 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1364/AO.54.005603] 

  5. I. Ota, J. Ohnishi, and M. Yoshiyama, Proc. IEEE., 61, 832 (1973). [DOI: https://doi.org/10.1109/proc.1973.9173] 

  6. J. Heikenfeld, P. Drzaic, J. S. Yeo, and T. Koch, J. Soc. Inf. Disp., 19, 129 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1889/jsid19.2.129] 

  7. J. Heikenfeld, Proc. Advances in Display Technologies; and E-papers and Flexible Displays (SPIE OPTO, San Francisco, USA, 2011) p. 795608. [DOI: https://doi.org/10.1117/12.874294] 

  8. S. Mukherjee, N. Smith, M. Goulding, C. Topping, S. Norman, Q. Liu, L. Kramer, S. Kularatne, and J. Heikenfeld, J. Soc. Inf. Disp., 22, 106 (2014). [DOI: https://doi.org/10.1002/jsid.225] 

  9. A. Gao, M. Cao, J. Yan, L. Li, X. Li, S. Jiao, and T. Zhao, Adv. Graphic Commun. Print. Packag., 543, 788 (2019). [DOI: https://doi.org/ 10.1007/978-981-13-3663-8_106] 

  10. B. Comiskey, J. D. Albert, H. Yoshizawa, and J. Jacobson, Nature, 394, 253 (1998). [DOI: https://doi.org/10.1038/28349] 

  11. S. K. Eshkalak, M. Khatibzadeh, E. Kowsari, A. Chinnappan, W.A.D.M. Jayathilaka, and S. Ramakrishna, Opt. Laser Technol., 117, 38 (2019). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.optlastec.2019.04.003] 

  12. R. Qiao, X. L. Zhang, R. Qiu, and Y. S. Kang, Colloids Surf., A, 313, 347 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.colsurfa.2007.04.146] 

  13. W. C. Kao and J. C. Tsai, IEEE Trans. Electron Devices, 65, 1023 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2018.2791541] 

  14. Y. C. Kim, Trans. Electr. Electron. Mater., In press (2020). [DOI: https://doi.org/10.1007/s42341-020-00206-y] 

  15. S. I. Lee, Y. C. Hong, and Y. C. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 31, 171 (2018). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2018.31.3.171] 

  16. H. L. Kang, C. A. Kim, S. I. Lee, Y. K. Shin, Y. H. Lee, Y. C. Kim, and B. K. Ju, J. Disp. Technol., 12, 747 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1109/jdt.2016.2524023] 

  17. H. J. An and Y. C. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 33, 31 (2020). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2020.33.1.31] 

  18. S. I. Lee, Y. C. Hong, and Y. C. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 29, 231 (2016). [DOI: https://doi.org/10.4313/jkem.2016.29.4.231] 

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