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LCD 몰리브덴 핀 개발을 위한 전수검사 융합시스템
All goods Inspection Convergence System for the Development of LCD Molybdenum Pin 원문보기

한국융합학회논문지 = Journal of the Korea Convergence Society, v.11 no.11, 2020년, pp.183 - 187  

이정익 (인하공업전문대학 기계설계과)

초록
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LCD BLU의 CCFL 전극에 사용되는 몰리브덴 전극의 주요소재인 몰리브덴 컵과 몰리브덴 핀은 국내 가공기술이 개발되지 못하여 전량 일본에서 수입하여 사용되고 있어 CCFL 제조업체들의 납기 및 경쟁력에 부담을 주고 있다. 본 연구에서는 LCD BLU의 CCFL 전극에 사용되는 몰리브덴 핀의 제조 기술을 개발하는 연구로 직선처리 기술개발, 몰리브덴 와이어 표면처리 기술개발, 와이어 절단기술 개발, 몰리브덴 핀의 제작, 검사용 JIG와 Fixture 설계 및 제작, 몰리브덴 핀 시제작 및 해석, 몰리브덴 핀 전수검사 기술개발에 관한 연구를 수행하였으며 본 논문에서는 몰리브덴 핀 제작에 있어 전수검사기 융합설계에 대한 연구를 다루고자 한다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

The molybdenum cup and molybdenum pin, which are the main materials of the molybdenum electrode used for the LCD BLU CCFL electrode, have not been developed in Japan and all of them are imported and used from Japan, is giving a competitive burden. In this research, to develop the manufacturing techn...

주제어

#몰리브덴 핀   #액정디스플레이   #후광 광원 장치   #검사   #냉각선 음극관  

표/그림 (10)

AI 본문요약
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문제 정의

  • 몰리브덴 핀 가공은 다음 단계를 거친다. Straightening(직선화) 기술과 Cutting(전단) 기술, 표면처리 기술, 마지막으로 전수검사 기술로 구성되며, 본 연구에서는 이러한 몰리브덴 핀의 국산화를 위한 연구를 수행하여 제품을 생산부터 검사까지 수행할 수 있는 자동화 공정을 개발함을 최종목표로 하고 있다. 몰리브덴은 제조공정 중 미세한 외부환경의 변화에도 재료의 크랙과 같은 불량이 발생 소지가 있으며, 이러한 불량은 CCFL 제품성능에 심각한 불합격 문제를 유발하므로 생산 중 품질보증 및 전수검사가 필수적이다.
  • 본 과제에서는 LCD의 몰리브덴 핀의 제작과정을 수행하는 연구로 직선처리 기술개발, 몰리브덴 와이어 표면 처리 기술개발, 와이어 절단기술개발, 몰리브덴 핀의 제작과 검사용 JIG and Fixture 설계 및 제작, 몰리브덴핀 시제작 및 해석, 몰리브덴 핀 전수검사 기술개발에 관한 연구를 수행하였다[11, 12].
  • 본 비전시스템은 개발된 몰리브덴 핀의 다양한 패턴의 길이 및 표면 크랙, 스크래치를 검사하는 독립형 비전 모듈 시스템을 목적으로 하며, 그 구성은 비전 제어기, 카메라, 렌즈 및 검사 플랫폼 등으로 구성되었다.
  • LCD 백라이트부의 CCFL 전극에 몰리브덴 핀을 제조함에 재질 문제상 정밀가공 및 전수검사가 어려우므로 전체 생산에 대해 균일한 제품이 나올 수 있는 연구가 필요하다. 본 연구에서는 몰리브덴 핀 제작의 마지막 단계인 전수검사 방법을 연구하고 설비 시스템의 설계 및 제작을 시행하였다. 그 세부 방법으로는 첫째, 몰리브덴 핀 전수검사 시스템을 자동화면과 수동화면으로 선택해서 작동하도록 설계하였다.
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참고문헌 (15)

  1. C. B. Moon, U. K. Jung, H. S. Lee, J. Y. Lee, H. Y. Lee, B. M. Kim & H. S. Yang. (2010). CCFL Defects Detection Algorithm with Shooting Environment. Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference, 365-368. 

  2. C. B. Moon, Y. H. Ahn, H. Y. Lee, B. M. Kim & D. W. Oh. (2010). Implementation of Automatic Detection System for CCFL's Detection based on Combined Lighting. Journal of the Korea industry information Systems Research, 69-81. 

  3. Y. C. Kim. (2006). Modeling of Piezoelectric Transformer and CCFL by PSPICE Circuit Analysis. Journal of the Korea Academy-industrial cooperation Society, 7(3), 350-357. 

  4. J. I. Lee, E. S. Lee & B. I. Yoo. (2008). CCFL Electrode Molybdenum Pin. Proceedings of Korean Society of Mechanical Technology, 5-9. 

  5. J. I. Lee. (2009). The Development of CCFL Electrode Nickle Cup for High Brightness and High Life. Proceedings of Korean Society of Mechanical Technology, 43-47. 

  6. T. Zaitsu, I. Inoue, O. Ohnishi & A. Iwamoto. (1992). 2MHz Power Converter with Piezoelectric Ceramic Transformer. IEEE INTELEC'92 Proc., 430-437. 

  7. T. Zaitsu, T. Shigehisa & M. Shoyama. (1996). Piezoelectric Transfomer Converter with PWM Control. IEEE APEC'96 Proc., 279-283. 

  8. L. H. Hwang, J. H. Yoo, J. R. Kim, E. S. Jang, D. G. Oh, Y. H. Jeong, K. S. Ahn & M. T. Cho. (2004). Fabrication and characteristics of PDA LCD backlight driving circuit using piezoelectric transformer, Sensor and Actuator, 74-78. 

  9. L. H. Hwang, J. H. Yoo, J. R. Kim, J. H. Jang, M. T. Cho, I. S. Ahn & H. B. Song. (2005). A study on Driving of 35W(T5) fluorescent lamp by the electronic ballast using piezoelectric transformar, ICCE, psi-60. 

  10. L. H. Hwang, J. H. Yoo, J. R. Kim, E. S. Jang, C. S. Lee, M. T. Cho & J. S. Kim. (2002). A study on the T5 Fluorescent Lamp Ballast used Contour Vibration Mode Piezoelectric Transformer using a One-Chip Micro- controller, ISAF, 287-290. 

  11. N. Sun & B. Hesterman. (1997). Pspice Frequency Dynamic Fluorescent Lamp Model. IEEE APEC Conference Record, 641-647. 

  12. T. Zaitsu, T. Inoue, O. Ohnishi & Y. Sasaki. (1997). 2MHz Power Converter with Piezoelectric Ceramic Transfomer, IEICE Transactions on Electronics, E77-C(2). 

  13. K. F. Mak, C. Lee, J. Hone, J. Shan & T. F. Heinz. (2010). Atomically Thin MoS2: A New Direct-Gap Semiconductor, Phys. Rev. Lett. 105, 136805. 

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  14. C. Lee, H. Yan, L. E. Brus, T. F. Heinz, J. Hone & S. Ryu. (2010). Anomalous Lattice Vibrations of Signle-and Few-Layer MoS2. ACS Nano4, 2695-2700. 

    상세보기 crossref

  15. G. Lee et al. (2013). Flexible and Transparent MoS2 Field-Effect Transistor on Hexagonal Boron Nitride-Graphene Heterostructures, ACS nano, 9, 7931-7936 

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