최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.35 no.5, 2022년, pp.452 - 458
김유정 (충북대학교 전자공학부) , 이승은 (충북대학교 전자공학부) , 이광선 (충북대학교 전자공학부) , 박준영 (충북대학교 전자공학부)
The electro-thermal erasing (ETE) configuration utilizes Joule heating intentionally generated at word-line (WL). The elevated temperature by heat physically removes stored electrons permanently within a very short time. Though the ETE configuration is a promising next generation NAND flash memory c...
D. Gupta and S. K. Vishvakarma, IEEE Trans. Electron Devices, 63, 668 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1109/TED.2015.2510018]
T. Kim, N. Franklin, C. Srinivasan, P. Kalavade, and A. Goda, IEEE Electron Device Letters, 32, 1185 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1109/LED.2011.2159573]
M. Park, K. Kim, J. H. Park, and J. H. Choi, IEEE Electron Device Letters, 30, 174 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1109/LED.2008.2009555]
J. Fu, N. Singh, K. D. Buddharaju, S.H.G. Teo, C. Shen, Y. Jiang, C. X. Zhu, M. B. Yu, G. Q. Lo, N. Balasubramanian, D. L. Kwong, E. Gnani, and G. Baccarani, IEEE Electron Device Letters, 29, 518 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1109/LED.2008.920267]
J. Cho, D. C. Kang, J. Park, S. W. Nam, J. H. Song, B. K. Jung, J. Lyu, H. Lee, W. T. Kim, H. Jeon, S. Kim, I. M. Kim, J. I. Son K. Kang, S. W. Shim, J. Park, E. Lee, K. M. Kang, S. W. Park, J. Lee, S. H. Moom, P. Kwak, B. H. Jeong, C. A. Lee, K. Kim, J. Ko, T. H. Kwon, J. Lee, Y. Lee, C. Kim, M. W. Lee, J. Yun, H. Lee, Y. Choi, S. Hong, J. Park, Y. Shin, H. Kim, H. Kim, C. Yoon, D. S. Byeon, S. Lee, J. Y. Lee, J. Song, Proc. IEEE International Solid- State Circuits Conference (ISSCC) (IEEE, San Francisco, CA, USA, 2021) pp. 426-428. [DOI: https://doi.org/10.1109/ISSCC42613.2021.9366054]
J. Y. Park, D. I. Moon, G. B. Lee, and Y. K. Choi, IEEE Trans. Electron Devices, 67, 777 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1109/TED.2020.2964846]
J. Y. Park, D. I. Moon, M. L. Seol, C. K. Kim, C. H. Jeon, H. Bae, T. Bang, and Y. K. Choi, IEEE Trans. Electron Devices, 63, 910 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1109/TED.2015.2513744]
D. C. Ahn, M. L. Seol, J. Hur, D. I. Moon, B. H. Lee, J. W. Han, J. Y. Park, S. B. Jeon, and Y. K. Choi, IEEE Electron Device Letters, 37, 190 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1109/LED.2015.2512280]
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
오픈액세스 학술지에 출판된 논문
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.