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NTIS 바로가기Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, v.18 no.6, 2000년, pp.2843 - 2846
Bierner, J. (Infineon Technologies, Wernerwerkstr. 2, D-93049 Regensburg, Germany) , Jacob, M. (Infineon Technologies, Wernerwerkstr. 2, D-93049 Regensburg, Germany) , Schönherr, H. (Infineon Technologies, Siemensstr. 2, A-9500 Villach, Austria)
Ultraviolet (UV)-transparent silicon nitride films were deposited in a plasma enhanced chemical vapor deposition reactor. The dependence of the film properties on process parameters has been studied. UV transmittance, refractive index, hydrogen content, and step coverage were compared to UV-opaque f...
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 34 4736 1995 10.1143/JJAP.34.4736
Proc. SPIE 2876 63
Plasma Chem. Plasma Process. 11 455 1991 10.1007/BF01447159
Plasma Chem. Plasma Process. 10 3 1990 10.1007/BF01460445
J. Vac. Sci. Technol. A 8 1851 1990 10.1116/1.576815
J. Electrochem. Soc. 130 2219 1983
Phys. Rev. B 38 8171 1988 10.1103/PhysRevB.38.8171
J. Appl. Phys. 53 5630 1982 10.1063/1.331445
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