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NTIS 바로가기Materials science & engineering. properties, microstructure and processing. A, Structural materials, v.294/296, 2000년, pp.854 - 858
Kreutzer, P (Corresponding author. Tel.: +49-40-42838-5281) , Anton, R (fax: +49-40-42838-6990)
Abstract Thin AlMn films were grown by simultaneous deposition of the components on carbon substrates (a-C, HOPG). The films were characterized by transmission electron microscopy, electron diffraction and EDX. Depending on composition, deposition rate, and substrate temperature, different phases w...
J. Mater. Res. Barna 7 1115 1992 10.1557/JMR.1992.1115
Phys. Scripta T Barna 49 349 1993 10.1088/0031-8949/1993/T49A/061
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J. Crystal Growth Noro 99 597 1990 10.1016/0022-0248(90)90590-H
Jpn. J. Appl. Phys. Yoshioka 34 1606 1995 10.1143/JJAP.34.1606
Jpn. J. Appl. Phys. Ichikawa 33 L736 1994 10.1143/JJAP.33.L736
Thin Solid Films Mihama 163 61 1988 10.1016/0040-6090(88)90411-7
Phys. Stat. Sol. (b) Meddour 208 517 1998 10.1002/(SICI)1521-3951(199808)208:2<517::AID-PSSB517>3.0.CO;2-H
Czech. J. Phys. Sonsky 47 1019 1997 10.1023/A:1021133222963
Phil. Mag. Lett. Emeric 78 77 1998 10.1080/095008398178057
Phys. Rev. Lett. Bancel 54 22 2422 1985 10.1103/PhysRevLett.54.2422
Thin Solid Films Reyes-Gasga 227 24 1993 10.1016/0040-6090(93)90182-O
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