[논문]Comparison of quantitative analyses using SIMS, atom probe tomography, and femtosecond laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry with Si1−XGeX and Fe1−X NiX binary alloys

Jang, Yun Jung; Kim, Seon Hee; Kim, Kyung Joong; Kim, Donghwan; Lee, Yeonhee

doi:10.1116/6.0000101

[해외논문] Comparison of quantitative analyses using SIMS, atom probe tomography, and femtosecond laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry with Si1−XGeX and Fe1−X NiX binary alloys

Journal of vacuum science and technology. materials, processing, measurement, & phenomena : JVST B. B, Nanotechnology & microelectronics, v.38 no.3, 2020년, pp.034009 -

Jang, Yun Jung (Advanced Analysis Center, Korea Institute of Science and Technology 1 , Seoul 02792, Korea) , Kim, Seon Hee (Advanced Analysis Center, Korea Institute of Science and Technology 1 , Seoul 02792, Korea) , Kim, Kyung Joong (Division of Advanced Technology, Korea Research Institute of Standards and Science 3 , Daejeon 34113, Korea) , Kim, Donghwan (Department of Materials Science and Engineering, Korea University 2 , Seoul 02841, Korea) , Lee, Yeonhee (Advanced Analysis Center, Korea Institute of Science and Technology 1 , Seoul 02792, Korea)

Abstract ▼ AI-Helper

Due to their electrical and physical properties, Si1−XGeX materials are widely used in microelectronic devices. In particular, the Ge component found within Si1−XGeX compounds is important for enhancing carrier mobility and altering the lattice constant of metal-oxide-semiconductor field-effect transistors. In this study, magnetic sector secondary ion mass spectrometry (magnetic sector SIMS) and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) were used to determine the accurate concentrations of major compositions present within binary alloy samples. However, quantitative SIMS analysis is limited by the matrix effect, which influences the sputter yield of an element in a compound and alters the secondary ionization yields. Quantitative deviations that were due to the matrix effect were reduced by using Cs cluster ions (MCs+ and MCs2+) instead of elemental ions; the SIMS results using the elements were, therefore, compared with those using MCs+ and MCs2+ cluster ions. In the case of Fe1−XNiX alloys that have a less matrix effect compared to Si1−XGeX alloys, both the Cs primary ion beam (Cs+) and an oxygen primary ion beam (O2+) were used to measure the Fe1−XNiX compositions. The quantitative results from the two different primary ion beams were then compared to understand the ionization process. Deviations in the quantitative values gained with the O2+ beam were lower than those obtained using the Cs+ primary ions, meaning that using oxygen as the primary ion improves the accuracy in quantifying Fe1−XNiX compounds. Other reliable tools for analysis such as atom probe tomography and femtosecond laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry were also used in the quantitative analysis, with results that were consistent with the most accurate results obtained using magnetic sector SIMS and ToF-SIMS.

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DOI : 10.1116/6.0000101 [무료]
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표제어: PCR

동의어: Packet Collision Rate

용어 설명 출처 목록 (6)

용어 설명: PCR은 세균 특이성이 있는 primer를 이용하여 적은 수의 세균이 있을지라도 쉽게 검출할 수 있는 유용한 방법이며, 이를 이용하여 구강 내 치면세균막이나 타액에서 직접 세균을 검출할 수 있게 되었다[8].

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