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[해외논문] Computational Characterization of Microwave Planar Cutoff Probes for Non-Invasive Electron Density Measurement in Low-Temperature Plasma: Ring- and Bar-Type Cutoff Probes 원문보기

Applied sciences, v.10 no.20, 2020년, pp.7066 -   

Kim, Si Jun (Nanotech Optoelectronics Research Center, Yongin Gyonggi Province 16882, Korea) ,  Lee, Jang Jae (Applied Physics Lab for PLasma Engineering (APPLE), Department of Physics, Chungnam National University, Daejeon 34134, Korea) ,  Lee, Young Seok (Applied Physics Lab for PLasma Engineering (APPLE), Department of Physics, Chungnam National University, Daejeon 34134, Korea) ,  Yeom, Hee Jung (Korea Research Institute of Standards and Science, Daejeon 34113, Korea) ,  Lee, Hyo Chang (Korea Research Institute of Standards and Science, Daejeon 34113, Korea) ,  Kim, Jung-Hyung (Korea Research Institute of Standards and Science, Daejeon 34113, Korea) ,  You, Shin Jae (Applied Physics Lab for PLasma Engineering (APPLE), Department of Physics, Chungnam National University, Daejeon 34134, Korea)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The microwave planar cutoff probe, recently proposed by Kim et al. is designed to measure the cutoff frequency in a transmission (S21) spectrum. For real-time electron density measurement in plasma processing, three different types have been demonstrated: point-type, ring-type (RCP), and bar-type (B...

참고문헌 (26)

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