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[해외논문] Synthesis of Lithography Test Patterns Using Machine Learning Model

IEEE transactions on semiconductor manufacturing : a publication of the IEEE Components, Hybrids, and Manufacturing Technology Society, the IEEE Electron Devices Society, the IEEE Reliability Society,, v.34 no.1, 2021년, pp.49 - 57  

Kareem, Pervaiz (KAIST, School of Electrical Engineering, Daejeon, South Korea) ,  Shin, Youngsoo (KAIST, School of Electrical Engineering, Daejeon, South Korea)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Diversity of test patterns is important for many lithography applications. It is however difficult to achieve with sample layouts or by using a popular pattern generator. We propose a synthesis method of lithography test patterns. Each pattern is represented by a map of IPS (image parameter space) v...

참고문헌 (24)

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  21. Sentaurus Lithography 2018 

  22. 10.1117/12.354329 

  23. 10.1109/CVPR.2017.632 

  24. 10.1145/3316781.3317852 

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