$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

[해외논문] Highly Reliable Charge Trap‐Type Organic Non‐Volatile Memory Device Using Advanced Band‐Engineered Organic‐Inorganic Hybrid Dielectric Stacks

Advanced functional materials, v.31 no.41, 2021년, pp.2103291 -   

Kim, Min Ju (School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Lee, Changhyeon (Department of Bio‐) ,  Shin, Eui Joong (chemical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Lee, Tae In (School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Kim, Seongho (School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Jeong, Jaejoong (School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Choi, Junhwan (School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, 34141, Republic of Korea) ,  Hwang, Wan Sik (Department of Bio‐) ,  Im, Sung Gap (ch) ,  Cho, Byung Jin

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

AbstractWith the recent interest in data storage in flexible electronics, highly reliable charge trap‐type organic‐based non‐volatile memory (CT‐ONVM) has attracted much attention. CT‐ONVM should have a wide memory window, good endurance, and long‐term retention c...

Keyword

참고문헌 (61)

  1. M. T. Ghoneim , M. M. Hussain , Electronics 2015 , 4 , 424 . 

  2. L. Zhou , J. Mao , Y. Ren , S. T. Han , V. A. Roy , Y. Zhou , Small 2018 , 14 , 1703126 . 

  3. P. Heremans , G. H. Gelinck , R. Muller , K.‐J. Baeg , D.‐Y. Kim , Y.‐Y. Noh , Chem. Mater. 2011 , 23 , 341 . 

  4. S. Gao , X. Yi , J. Shang , G. Liu , R.‐W. Li , Chem. Soc. Rev. 2019 , 48 , 1531 . 

  5. C.‐C. Shih , W.‐Y. Lee , W.‐C. Chen , Mater. Horiz. 2016 , 3 , 294 . 

  6. H.‐W. You , W.‐J. Cho , Appl. Phys. Lett. 2010 , 96 , 093506 . 

  7. C. Zhao , C. Z. Zhao , S. Taylor , P. R. Chalker , Materials 2014 , 7 , 5117 . 

  8. K. J. Baeg , Y. Y. Noh , J. Ghim , B. Lim , D. Y. Kim , Adv. Funct. Mater. 2008 , 18 , 3678 . 

  9. Y. C. Chiu , H. S. Sun , W. Y. Lee , S. Halila , R. Borsali , W. C. Chen , Adv. Mater. 2015 , 27 , 6257 . 

  10. Y.‐H. Chou , S. Takasugi , R. Goseki , T. Ishizone , W.‐C. Chen , Polym. Chem. 2014 , 5 , 1063 . 

  11. S. H. Kim , S. Nam , J. Jang , K. Hong , C. Yang , D. S. Chung , C. E. Park , W.‐S. Choi , J. Appl. Phys. 2009 , 105 , 104509 . 

  12. K. Pak , J. Choi , C. Lee , S. G. Im , Adv. Electron. Mater. 2019 , 5 , 1800799 . 

  13. K. J. Baeg , D. Khim , J. Kim , B. D. Yang , M. Kang , S. W. Jung , I. K. You , D. Y. Kim , Y. Y. Noh , Adv. Funct. Mater. 2012 , 22 , 2915 . 

  14. J. Aimi , C. T. Lo , H. C. Wu , C. F. Huang , T. Nakanishi , M. Takeuchi , W. C. Chen , Adv. Electron. Mater. 2016 , 2 , 1500300 . 

  15. C. Lee , K. Pak , J. Choi , M. J. Kim , B. J. Cho , S. G. Im , Adv. Funct. Mater. 2020 , 30 , 2004665 . 

  16. M. Fuhrer , B. Kim , T. Dürkop , T. Brintlinger , Nano Lett. 2002 , 2 , 755 . 

  17. J. Jung , J. Jin , I. Lee , T. Kim , H. Roh , Y.‐H. Kim , Appl. Phys. Lett. 2006 , 88 , 112107 . 

  18. B. N. Pal , P. Trottman , J. Sun , H. E. Katz , Adv. Funct. Mater. 2008 , 18 , 1832 . 

  19. S. Wang , J. Pu , D. S. Chan , B. J. Cho , K. P. Loh , Appl. Phys. Lett. 2010 , 96 , 143109 . 

  20. M. Kaltenbrunner , P. Stadler , R. Schwödiauer , A. W. Hassel , N. S. Sariciftci , S. Bauer , Adv. Mater. 2011 , 23 , 4892 . 

  21. Y. H. Chou , W. Y. Lee , W. C. Chen , Adv. Funct. Mater. 2012 , 22 , 4352 . 

  22. J. Hirschmann , H. Faber , M. Halik , Nanoscale 2012 , 4 , 444 . 

  23. S. Bertolazzi , D. Krasnozhon , A. Kis , ACS Nano 2013 , 7 , 3246 . 

  24. D. S. Chung , S. M. Lee , J. Y. Back , S.‐K. Kwon , Y.‐H. Kim , S. T. Chang , ACS Appl. Mater. Interfaces 2014 , 6 , 9524 . 

  25. J. Liu , C.‐H. Liu , X.‐J. She , Q.‐J. Sun , X. Gao , S.‐D. Wang , Appl. Phys. Lett. 2014 , 105 , 163302 . 

  26. S. Jang , E. Hwang , J. H. Lee , H. S. Park , J. H. Cho , Small 2015 , 11 , 311 . 

  27. C.‐C. Shih , W.‐Y. Lee , Y.‐C. Chiu , H.‐W. Hsu , H.‐C. Chang , C.‐L. Liu , W.‐C. Chen , Sci. Rep. 2016 , 6 , 20129 . 

  28. S. Lee , H. Seong , S. G. Im , H. Moon , S. Yoo , Nat. Commun. 2017 , 8 , 725 . 

  29. S.‐J. Kim , J.‐S. Lee , Nano Lett. 2010 , 10 , 2884 . 

  30. M. Kang , K. J. Baeg , D. Khim , Y. Y. Noh , D. Y. Kim , Adv. Funct. Mater. 2013 , 23 , 3503 . 

  31. S. Lee , J. Lee , H. Lee , Y. J. Yuk , M. Kim , H. Moon , J. Seo , Y. Park , J. Y. Park , S. H. Ko , Org. Electron. 2013 , 14 , 3260 . 

  32. V. Suresh , Y. F. Ling , Y. L. Thu , T. H. Ru , C. W. Kiong , M. Srinivasan , J. Mater. Chem. C 2015 , 3 , 10121 . 

  33. C. C. Shih , Y. C. Chiu , W. Y. Lee , J. Y. Chen , W. C. Chen , Adv. Funct. Mater. 2015 , 25 , 1511 . 

  34. M. Kang , D. Khim , W.‐T. Park , J. Kim , J. Kim , Y.‐Y. Noh , K.‐J. Baeg , D.‐Y. Kim , Sci. Rep. 2015 , 5 , 12299 . 

  35. S.‐T. Han , Y. Zhou , B. Chen , L. Zhou , Y. Yan , H. Zhang , V. Roy , Nanoscale 2015 , 7 , 17496 . 

  36. M. H. Woo , B. C. Jang , J. Choi , K. J. Lee , G. H. Shin , H. Seong , S. G. Im , S. Y. Choi , Adv. Funct. Mater. 2017 , 27 , 1703545 . 

  37. S. C. Yang , J. Choi , B. C. Jang , W. Hong , G. W. Shim , S. Y. Yang , S. G. Im , S. Y. Choi , Adv. Electron. Mater. 2019 , 5 , 1800688 . 

  38. K. J. Baeg , M. G. Kim , C. K. Song , X. Yu , A. Facchetti , T. J. Marks , Adv. Mater. 2014 , 26 , 7170 . 

  39. H. Moon , H. Seong , W. C. Shin , W.‐T. Park , M. Kim , S. Lee , J. H. Bong , Y.‐Y. Noh , B. J. Cho , S. Yoo , Nat. Mater. 2015 , 14 , 628 . 

  40. M. J. Kim , J. Jeong , T. I. Lee , J. Kim , Y. Tak , H. Park , S. G. Im , B. J. Cho , Macromol. Mater. Eng. 2020 , 306 , 2000608 . 

  41. M. J. Kim , K. Pak , W. S. Hwang , S. G. Im , B. J. Cho , ACS Appl. Mater. Interfaces 2018 , 10 , 37326 . 

  42. M. J. Kim , K. Pak , J. Choi , T. I. Lee , W. S. Hwang , S. G. Im , B. J. Cho , ACS Appl. Mater. Interfaces 2019 , 11 , 44513 . 

  43. K. K. Gleason , Nat. Rev. Phys. 2020 , 2 , 347 . 

  44. M. J. Kim , C. Lee , J. Jeong , S. Kim , T. I. Lee , E. J. Shin , W. S. Hwang , S. G. Im , B. J. Cho , Adv. Electron. Mater. 2021 , 7 , 2001197 . 

  45. C. Papadas , G. Ghibaudo , G. Pananakakis , C. Riva , P. Mortini , J. Appl. Phys. 1992 , 71 , 4589 . 

  46. J. Moon , T. Y. Lee , H. J. Ahn , T. I. Lee , W. S. Hwang , B. J. Cho , IEEE Trans. Electron Devices 2018 , 66 , 378 . 

  47. H. Jiang , Z. Huang , G. Xue , H. Chen , H. Li , J. Mater. Chem. C 2018 , 6 , 12001 . 

  48. D. J. O'Connor , B. A. Sexton , R. S. Smart , Surface Analysis Methods in Materials Science , Vol. 23 , Springer Science & Business Media , New York 2013 . 

  49. M. Vos , S. W. King , B. L. French , J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2016 , 212 , 74 . 

  50. H.‐T. Lue , T.‐H. Hsu , Y.‐H. Hsiao , S.‐C. Lai , E.‐K. Lai , S.‐P. Hong , M.‐T. Wu , F. Hsu , N. Lien , C.‐P. Lu , Int. Electron Devices Meet. , IEEE , New York 2009 

  51. H. T. Lue , S. Y. Wang , E. K. Lai , Y. H. Shih , S. C. Lai , L. W. Yang , K. C. Chen , J. Ku , K. Y. Hsieh , R. Liu , C. Y. Lu , Int. Electron Devices Meet. Tech. Dig. , IEEE , New York 2005 . 

  52. Y. N. Tan , W. K. Chim , W. K. Choi , M. S. Joo , B. J. Cho , IEEE Trans. Electron Devices 2006 , 53 , 654 . 

  53. H. J. Yang , C. F. Cheng , W. B. Chen , S. H. Lin , F. S. Yeh , S. P. McAlister , A. Chin , IEEE Trans. Electron Devices 2008 , 55 , 1417 . 

  54. Y. H. Wu , L. L. Chen , J. R. Wu , M. L. Wu , C. C. Lin , C. H. Chang , IEEE Electron Device Lett. 2010 , 31 , 1008 . 

  55. H. W. You , W. J. Cho , Appl. Phys. Lett. 2010 , 96 , 093506 . 

  56. A. Arreghini , G. S. Kar , G. Van den Bosch , J. Van Houdt , IEEE Electron Device Lett. 2013 , 34 , 632 . 

  57. T. H. Kim , I. H. Park , J. D. Lee , H. C. Shin , B.‐G. Park , Appl. Phys. Lett. 2006 , 89 , 063508 . 

  58. S. J. Yun , K.‐H. Lee , J. Skarp , H.‐R. Kim , K.‐S. Nam , J. Vac. Sci. Technol., A 1997 , 15 , 2993 . 

  59. D. M. Hausmann , E. Kim , J. Becker , R. G. Gordon , Chem. Mater. 2002 , 14 , 4350 . 

  60. Q. Xie , Y.‐L. Jiang , C. Detavernier , D. Deduytsche , R. L. Van Meirhaeghe , G.‐P. Ru , B.‐Z. Li , X.‐P. Qu , J. Appl. Phys. 2007 , 102 , 083521 . 

  61. T. H. Kim , J. S. Sim , J. D. Lee , H. C. Shin , B.‐G. Park , Appl. Phys. Lett. 2004 , 85 , 660 . 

LOADING...

활용도 분석정보

상세보기
다운로드
내보내기

활용도 Top5 논문

해당 논문의 주제분야에서 활용도가 높은 상위 5개 콘텐츠를 보여줍니다.
더보기 버튼을 클릭하시면 더 많은 관련자료를 살펴볼 수 있습니다.

관련 콘텐츠

유발과제정보 저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로