[논문]Dual-reflector compact range modelling: geometrical theory of diffraction analysis and sub-millimetre quiet-zone computation

Brossard, J; Dubruel, D; Buralli, B; Nielsen, P H

doi:10.1088/1464-4258/5/2/306

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Dual-reflector compact range modelling: geometrical theory of diffraction analysis and sub-millimetre quiet-zone computation

Journal of optics A, Pure and applied optics, v.5 no.2, 2003년, pp.108 - 116

Brossard, J (Alcatel Space Industries, 100 Boulevard du midi, 06156 Cannes Cedex, France) , Dubruel, D (Alcatel Space Industries, 100 Boulevard du midi, 06156 Cannes Cedex, France) , Buralli, B (Alcatel Space Industries, 100 Boulevard du midi, 06156 Cannes Cedex, France) , Nielsen, P H (TICRA Laederstraede 34-DK-1201, Copenhagen K, Denmark)

Abstract ▼ AI-Helper

The growing need to study large antennas at high frequencies (100$">ν > 100 GHz) in compact range devices requires the use of methods adapted to electrically large systems, and offering reasonable computing time. The uniform geometrical theory of diffraction (GTD) is used for dual-reflector compact range analysis. This method is compared with standard physical optics, which have been validated by measurements. At 10 GHz, the differences between the methods are very small and the time needed for a compact range analysis is less than 3 h. We have shown that a modelling of a large compact range operating at millimetre and sub-millimetre wavelength is possible using the GTD which offers the advantage of being frequency independent. The problem of surface accuracy which has a major impact at high frequencies will be treated briefly.

참고문헌 (9)

Rieckmann, C., Rayner, M.R., Parini, C.G.. Diffracted Gaussian beam analysis of quasi-optical multi-reflector systems. Electronics letters, vol.36, no.19, 1600-.

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1999 242 Jensen F
1996 vol 143 193 Parini C G
2000 Pontoppidan K
1999 Pontoppidan K
2000 Dubruel D
1999 Nielsen P
1974 10.1109/PROC.1974.9651 62 1448 0018-9219 Proc. IEEE Kouyoumjian R G

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Parini, C.G., Philippakis, M.. Compact antenna test range reflector edge treatment. Electronics letters, vol.32, no.2, 82-83.

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