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Composition determination of Si/Si1−xGex/Si by photoreflectance spectroscopy

Metals and materials international, v.10 no.5, 2004년, pp.489 - 492  

Chen, Changchun ,  Kelly, P. V. ,  Liu, Zhihong ,  Huang, Wentao ,  Dou, Weizhi ,  Tsien, Pei-Hsin

초록이 없습니다.

참고문헌 (9)

  1. IEEE Trans. Electron Devices D. L. Harame 42 469 1995 10.1109/16.368043 D. L. Harame, J. H. Comfort, J. D. Cressler, F. Crabbé, J. Y. C. Sun, B. S. Meyerson, and T. Tice,IEEE Trans. Electron Devices 42, 469 (1995). 

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  2. IEEE Electron Device Lett. G. L. Patton 9 165 1988 10.1109/55.677 G. L. Patton, S. S. Iyer, S. L. Delage, S. Tiwari, and J. M. C. Stork,IEEE Electron Device Lett. 9, 165 (1988). 

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  3. Phys Status Solid A P. Zaumseil 70 497 1982 10.1002/pssa.2210700217 P. Zaumseil and U. Winter,Phys Status Solid A 70, 497 (1982). 

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  4. F. H. Pollak 527 1994 Handbook on Semiconductors II F. H. Pollak,Handbook on Semiconductors II (eds., T. S. Moss), p. 527, North Holland, Amsterdam (1994). 

  5. Materials Science and Engineering B Hidenori Moriya 76 232 2000 10.1016/S0921-5107(00)00453-0 Hidenori Moriya, Akio Kaneta, Sadao Adachi,Materials Science and Engineering B 76, 232 (2000). 

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  6. Met. Mater.-Int. Changchun Chen 10 281 2004 Changchun Chen, Wentao Huang, Zhihong Liu, Jilin Wang, Xiaoyi Xiong, Yilin Shan, Wei Zhang, Jun Zhu, and Peihsin Tsien.Met. Mater.-Int. 10, 281 (2004). 

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  7. III-Vs Review Pat Kelly 16 31 2003 Pat Kelly,III-Vs Review 16, 31 (2003). 

  8. D. E. Aspnes 109 1980 Handbook o Semiconductors II D. E. Aspnes,Handbook o Semiconductors II (eds., M. Balkanski), p. 109, North-Holland, Amsterdam (1980). 

  9. Thin Solid Films R. T. Carlinea 313-314 579 1998 10.1016/S0040-6090(97)00888-2 R. T. Carlinea, U. J. Russella, T. J. C. Hoseab, P. J. S. Thomasb, C. Pickeringa,Thin Solid Films 313-314, 579 (1998). 

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