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NTIS 바로가기Surface and interface analysis : SIA, v.37 no.12, 2005년, pp.1111 - 1114
Inoue, M. (Toyota Central R&D Labs. Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) , Murase, A. (Toyota Central R&D Labs. Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, Japan)
We investigated reduction of the matrix effect in time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) analysis by the deposition of a small amount of metal on the sample surfaces (metal-assisted SIMS or MetA-SIMS). The metal used was silver, and the substrates used were silicon wafers as elect...
J. Non-Cryst. Solids Hattori 218 196 1997 10.1016/S0022-3093(97)00201-9
Goodman 1999 , . Proceedings of the Institute of Environmental Sciences and Technology. 1999; 131.
Appl. Surf. Sci Inoue 231/232 296 2004 10.1016/j.apsusc.2004.03.066
Anal. Chem Delcorte 74 4955 2002 10.1021/ac020125h
Appl. Surf. Sci. Delcorte 231/232 250 2004 10.1016/j.apsusc.2004.03.029
Anal. Chem Delcorte 75 6875 2003 10.1021/ac0302105
Appl. Surf. Sci. Adriaensen 231/232 256 2004 10.1016/j.apsusc.2004.03.031
Anal. Chem Adriaensen 76 6777 2004 10.1021/ac049108d
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