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酸化物薄膜成長中のRHEED強度振動
RHEED Intensity Oscillation during Oxide Thin Film Growth 원문보기

表面科學 = Journal of the Surface Science Society of Japan, v.28 no.4, 2007년, pp.223 - 226  

大西 剛 (東京大学) ,  Mikk LIPPMAA (物性研)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Here we introduce a scanning reflection high-energy electron diffraction technique (Scanning RHEED), that is used to measure simultaneously multiple RHEED intensity variation curves as a function of position, azimuth angle, incident angle or combinations of all three, during epitaxial film growth on...

참고문헌 (21)

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