[논문]Optimal simple step stress accelerated life test design for reliability prediction

Fard, N.; Li, C.

doi:10.1016/j.jspi.2008.05.046

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Optimal simple step stress accelerated life test design for reliability prediction

Journal of statistical planning and inference, v.139 no.5, 2009년, pp.1799 - 1808

Fard, N. (Department of Mechanical and Industrial Engineering, Northeastern University, Boston, MA 02115, USA) , Li, C.

Abstract ▼ AI-Helper

A step stress accelerated life testing model is presented to obtain the optimal hold time at which the stress level is changed. The experimental test is designed to minimize the asymptotic variance of reliability estimate at time ζ. A Weibull distribution is assumed for the failure time at any constant stress level. The scale parameter of the Weibull failure time distribution at constant stress levels is assumed to be a log-linear function of the stress level. The maximum likelihood function is given for the step stress accelerated life testing model with Type I censoring, from which the asymptotic variance and the Fisher information matrix are obtained. An optimal test plan with the minimum asymptotic variance of reliability estimate at time ζ is determined.

주제어

참고문헌 (11)

IEEE Trans. Reliability Alhadeed 51 2 212 2002 10.1109/TR.2002.1011527 Optimal simple step-stress plan for Khamis-Higgins model

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Naval Res. Logist. Bai 40 193 1993 10.1002/1520-6750(199303)40:2<193::AID-NAV3220400205>3.0.CO;2-J Optimum simple step-stress accelerated life tests for Weibull distribution and Type-I censoring

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IEEE Trans. Reliability Bai 38 5 528 1989 10.1109/24.46476 Optimum simple step-stress accelerated life tests with censoring

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Elsayed, E.A., Zhang, H., 2004. Design of optimum simple step-stress accelerated life testing plans. In: Proceedings of the Second IIEC-2004, December 19-21, 2004, Riyadh, Kingdom of Saudi Arabia.
Comm. Statist. Simulation Comput. Khamis 26 4 1301 1997 10.1080/03610919708813441 Optimum M-step design with K stress variables

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IEEE Trans. Reliability Khamis 45 2 341 1996 10.1109/24.510823 Optimum 3-step step-stress tests

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IEEE Trans. Reliability Khamis 47 2 131 1998 10.1109/24.722275 A new model for step-stress testing

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IEEE Trans. Reliability Li 56 1 77 2007 10.1109/TR.2006.890897 Optimum bivariate step-stress accelerated life test for censored data

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IEEE Trans. Reliability Miller R-32 1 59 1983 10.1109/TR.1983.5221475 Optimum simple step-stress plans for accelerated life testing

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Tang 441 2003 Handbook of Reliability Engineering
IEEE Trans. Reliability Yeo 48 1 61 1999 10.1109/24.765928 Planning step-stress life-test with a target acceleration-factor

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