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[국내논문] Hard X-ray von Hamos Spectrometer for Single-Pulse Emission Spectroscopy
Journal of the Korean Physical Society, v.75 no.7, 2019년, pp.494 - 497
Anwar, Muhammad Ijaz , Ha, Sung Soo , Hwang, Byung-Jun , Han, Seonghyun , Oh, Maverick S. H. , Faiyaz, Mohd , Noh, Do Young , Kang, Hyon Chol , Kim, Sunam
초록이 없습니다.
참고문헌 (24)
-
Coord. Chem. Rev. P Glatzel 249 65 2005 10.1016/j.ccr.2004.04.011 P. Glatzel and U. Bergmann, Coord. Chem. Rev. 249, 65 (2005).
-
Chem. Phys. Lett. U Bergmann 302 119 1999 10.1016/S0009-2614(99)00095-0 U. Bergmann et al., Chem. Phys. Lett. 302, 119 (1999).
-
Photosynth. Res. U Bergmann 102 255 2009 10.1007/s11120-009-9483-6 U. Bergmann and P. Glatzel, Photosynth. Res. 102, 255 (2009).
-
Rev. Mod. Phys. L J Ament 83 705 2011 10.1103/RevModPhys.83.705 L. J Ament et al., Rev. Mod. Phys. 83, 705 (2011).
-
Semicond. Sci. Tech. M Rovezzi 29 023002 2014 10.1088/0268-1242/29/2/023002 M. Rovezzi and P. Glatzel, Semicond. Sci. Tech. 29, 023002 (2014).
-
Angew. Chem. Int. Ed. G Vankó 49 5910 2010 10.1002/anie.201000844 G. Vankó et al., Angew. Chem. Int. Ed. 49, 5910 (2010).
-
Opt. Express M Anwar 27 6030 2019 10.1364/OE.27.006030 M. Anwar et al., Opt. Express 27, 6030 (2019).
-
Phys. Rev. Lett. M Yabashi 97 084802 2006 10.1103/PhysRevLett.97.084802 M. Yabashi et al., Phys. Rev. Lett. 97, 084802 (2006).
-
Proc. Nat. Acad. Sci. U.S.A. R Alonso-Mori 109 19103 2012 10.1073/pnas.1211384109 R. Alonso-Mori et al., Proc. Nat. Acad. Sci. U.S.A. 109, 19103 (2012).
-
Appl. Phys. Lett. D Zhu 101 034103 2012 10.1063/1.4736725 D. Zhu et al., Appl. Phys. Lett. 101, 034103 (2012).
-
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A A K Freund 266 461 1988 10.1016/0168-9002(88)90430-5 A. K Freund, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 266, 461 (1988).
-
F Frontera 25 1995 Imaging in High Energy Astronomy 10.1007/978-94-011-0407-4_4 F. Frontera and G. Pareschi, Imaging in High Energy Astronomy (Springer, Dordrecht, 1995), pp. 25-31.
-
Proc. SPIE A P Shevelko 4144 148 2000 10.1117/12.405901 A. P. Shevelko et al., Proc. SPIE 4144, 148 (2000a).
-
Phys. Plasmas G Gregori 16 056306 2009 10.1063/1.3100203 G. Gregori and D. O Gericke, Phys. Plasmas 16, 056306 (2009).
-
J. Phys.: Conf. Ser. K Falk 244 042014 2010 K. Falk et al., J. Phys.: Conf. Ser. 244, 042014 (2010).
-
Phys. Rev. Lett. P Nilson 108 085002 2012 10.1103/PhysRevLett.108.085002 P. Nilson et al., Phys. Rev. Lett. 108, 085002 (2012).
-
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A J Hoszowska 376 129 1996 10.1016/0168-9002(96)00262-8 J. Hoszowska, J.-C. Dousse, J. Kern and C. Rhȇme, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 376, 129 (1996).
-
Naturwissenschaften L Von Hamos 20 705 1932 10.1007/BF01494468 L. Von Hamos, Naturwissenschaften 20, 705 (1932).
-
Ann. Phys. L Hamos 409 716 1933 10.1002/andp.19334090608 L. Hamos, Ann. Phys. 409, 716 (1933).
-
Rev. Sci. Instrum. J Szlachetko 83 103105 2012 10.1063/1.4756691 J. Szlachetko et al., Rev. Sci. Instrum. 83, 103105 (2012).
-
Advances in Laboratory-based X-Ray Sources and Optics A P Shevelko 4144 148 2000 10.1117/12.405901 A. P. Shevelko et al., Advances in Laboratory-based X-Ray Sources and Optics (International Society for Optics and Photonics, 2000b), Vol. 4144, pp. 148-155.
-
Appl. Sci. Y Inubushi 7 584 2017 10.3390/app7060584 Y. Inubushi et al., Appl. Sci. 7, 584 (2017).
-
Metrologia Y Ménesguen 55 56 2017 10.1088/1681-7575/aa9b12 Y. Ménesguen et al., Metrologia 55, 56 (2017).
-
J. Anal. Atom. Spectrom. S G Eeckhout 24 215 2009 10.1039/B808345M S. G Eeckhout et al., J. Anal. Atom. Spectrom. 24, 215 (2009).
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원문 URL 링크
- DOI : 10.3938/jkps.75.494
- Springer : 저널 > 논문
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