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NTIS 바로가기대한전자공학회 2000년도 추계종합학술대회 논문집(1), 2000 Nov. 01, 2000년, pp.441 - 444
김용선 (한국전자통신연구원)
This paper covers the performance testing for layer 3 Ethernet switch based on various methodologies by which we can measure essential metrics such as throughput, latency, frame loss rate, and back to back frames. In the first place, layer 2 and layer 3 switch evolution is introduced followed by des...
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