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NTIS 바로가기대한전기학회 1998년도 하계학술대회 논문집 A, 1998 July 20, 1998년, pp.302 - 304
강형구 (성균관대학교 전전컴 공학부) , 나완수 (성균관대학교 전전컴 공학부) , 주진호 (성균관대학교 신소재공학부) , 유재무 (한국기계연구원) , 오상수 (한국전기연구소) , 류강식 (한국전기연구소)
Self magnetic field in a Bus bar usually degrades the critical current in it. Actually the total critical current of a Bus bar is not the same as the sum of total critical current of each stacked HTS tape. This is due to the self field effects in a bus bar. To reduce the degradations of critical cur...
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