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NTIS 바로가기한국철도학회 1998년도 창립기념 춘계학술대회 논문집, 1998 May 01, 1998년, pp.408 - 418
정용운 (광운대학교 대학원) , 김현기 (광운대학교 대학) , 양성현 (광운대학) , 이기서 (광운대학교)
This paper presents the implementation of comparator which is self-testing with respect to the faults caused by any single physical defect likely to occur in NMOS and CMOS integrated circuit. The goal is to use it for the fault-tolerant system. First, a new fault model for PLA(Programmable Logic Arr...
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