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NTIS 바로가기전력전자학회 2003년도 춘계전력전자학술대회 논문집(1), 2003 July 01, 2003년, pp.97 - 101
김태진 (한국전기연구원) , 백주원 (한국전기연구원) , 이병국 (한국전기연구원) , 류명효 (한국전기연구원) , 김철우 (부산대)
In this paper, we propose a new diagnosis method of DC/UC converter aging. The method is based on parasitic resister change with aging process. we apply to on-line diagnosis of DC/DC converter because of observing not a device but a system. We present the mathematical analysis and experimental study...
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