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광섬유 자이로용 집적광학 칩의 제작과 신뢰성 시험
Fabrication and Reliability Test of Integrated Optical Chips for the Fiber Optic Gyro 원문보기

한국광학회 2003년도 제14회 정기총회 및 03년 동계학술발표회, 2003 Feb. 01, 2003년, pp.326 - 327  

방규철 (한국과학기술원 전자전산학과 전기 및 전자공학전공) ,  오영훈 (한국과학기술원 전자전산학과 전기 및 전자공학전) ,  신상영 (한국과학기술원 전자전산학과 전기 및 전자공학전공)

초록
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제작한 광소자를 상용화하기 위해서는 광섬유와 연결하는 것이 필수적이다. 광섬유와 광소자를 결합하고 모듈화하는 일련의 과정, 줄여서 광패키징은 물리, 재료, 전자 및 기계에 관한 전체적인 이해를 요구하고 많은 경우 아직 한번도 다뤄본 적이 없는 문제를 해결해야 하는 경우도 발생하고, 경우에 따라 매우 엄밀한 조건을 충족시켜야 한다. 이러한 광소자 패키징은 광소자를 제작하는 것만큼 힘들고 정교한 공정을 요구해 광모듈의 가격에 큰 비중을 차지하고 있다. (중략)

AI 본문요약
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제안 방법

  • 광섬유자이로가 사용되는 환경과 가장 큰 관계가 있는 온도순환과 진동의 항목에 대한 신뢰성 시험을 수행하였다. 그림 2과 같이 -40〜70℃의 온도 순환 환경에서 삽입 손실의 변화는 0.
  • 광섬유 자이로에서 사용 하기 위해서는 자이로 칩을 편광유지 광섬유와 결합하여야 한다. 우선 10° 단면 연마된 자이로 칩과의 결합 효율을 높이기 위하여 광섬유의 단면을 15° 단면 연마하였다. 마이크로 스테이지를 이용하여 광섬 유를 정렬한 후 자이로 칩과 광섬유를 UV curable epoxy로 고정한다.
  • 결정을 이용하 여 제작하였다. 제작된 자이로 칩을 광패키징하여 Telcordia 기준에 기초한 신뢰성 평가 시험을 수행하였다. 사용한 빛의 파장대역은 1550nm 이고, LiNbO3 광도파로는 50dB이상의 편광 소멸비를 얻기 위하여 APE(Annealed Proton Exchange) 공정으로 제작하였다⑵.

대상 데이터

  • 본 연구에서는 간섭계형 광섬유 자이로의 핵심 부품인 집적광학 자이로 칩을 LiNbO3 결정을 이용하 여 제작하였다. 제작된 자이로 칩을 광패키징하여 Telcordia 기준에 기초한 신뢰성 평가 시험을 수행하였다.
  • 제작된 자이로 칩을 광패키징하여 Telcordia 기준에 기초한 신뢰성 평가 시험을 수행하였다. 사용한 빛의 파장대역은 1550nm 이고, LiNbO3 광도파로는 50dB이상의 편광 소멸비를 얻기 위하여 APE(Annealed Proton Exchange) 공정으로 제작하였다⑵.
  • 제작된 패키지에 넣고 밀봉한다. 이 때 사용한 패키지의 재질은 LiNbQj와 열팽창 계수가 비슷한 스테인리스 스틸로 하였고, 패키지의 광섬유 feed-through와 광섬유를 고정하는 접착제 역시 LiNbCh와 패키지의 열팽창 계수 차를 완화시키기 위하여 탄력성이 있는 silicone 계열의 접착제를 사용하였다.
  • 출력면을 10° 단면연마 한다. 제작된 자이로 칩 의 크기는 250mm  5mm이고, 삽입손실은 2.2dB, V*는 4.56V로 측정되었다. 광섬유 자이로에서 사용 하기 위해서는 자이로 칩을 편광유지 광섬유와 결합하여야 한다.
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