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NTIS 바로가기대한전기학회 2005년도 제36회 하계학술대회 논문집 C, 2005 July 18, 2005년, pp.1945 - 1947
김하나 (명지대학교 전기전자재료연구실) , 심찬호 (명지대학교 전기전자재료연구실) , 김성준 (명지대학교 전기전자재료연구실) , 윤중락 (삼화콘덴서(주)) , 이헌용 (명지대학교 전기전자재료연구실)
This study considers find out best accelerated life testing and lifetime prediction of electrolytic capacitors. We proved about relation between failure and deterioration mechanism from last thesis. Beside we performed test that temperature and voltage press higher than allowance specification. Fail...
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