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NTIS 바로가기대한전기학회 2006년도 제37회 하계학술대회 논문집 B, 2006 July 12, 2006년, pp.705 - 706
김선구 (한국전기연구원) , 김선호 (한국전기연구원) , 김원만 (한국전기연구원) , 나대열 (한국전기연구원) , 노창일 (한국전기연구원) , 이동준 (한국전기연구원) , 정흥수 (한국전기연구원)
Generally Short Circuit Test of transformers are tested according to IEEE std C57.12.00-2000, IEC 60076-5(2000-07), ES148(1998.6.26) or KS C4309(2003). But ES148(1998.6.26) is same as IEEE std C57. 12.00-2000 and KS C4309(2003) is revising coincidence with IEC 60076-5(2000-07). On this study conditi...
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