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문제 정의
- 본 논문에서는 인쇄회로기판의 불량 검사 시스템에서 보다 빠르고보다 정확한 매칭 알고리즘에 대한 방법을 제시하였다. 불량 검사는 템플릿 매칭법을 기본으로 연구였으며 기존에 사용되던 MAD와 같은 조도의 변화에 약한 방법, NGC와 같이 많은 연산시간을 필요로하는 템플릿 매칭의 단점을 보완하기 위해 제안된 방법을 적용해 연산 시간에 대한 단축을 가져 올 수 왔으며 연산시간대비 정확한 검출을 수행할 수 있었다.
- 본 논문에서 제시한 방법은 NGC의 유사도 판별법에 대한 개선된 템플릿 매칭법을 제시한다. 본 논문에서는 템플릿의 빠른 매칭을 위한 격자 템플릿 매칭 방법을 제시하여 검사장비의 성능과 효율을 높이고자 한다.
가설 설정
- 있다. 템플릿의 크기는 MxN 이고 검사할 영역의 크기는 RxC , 겹침이 발생하는 횟수를 R—C)x(C—N)이라 가정하고 MAD, MSE, NGC, GNGC의 연산시간을 비교해보면 다음과 같다. MAD와 MSE의 방법은 전체 템플릿의 크기를 검사해야하는 반복문과 겸사할 영역의 크기만큼의 반복문이 수행되기 때문에 O(n4)의 연산시간이 걸리고, NGC의 방법은 MAD와 같은 연산 시간에 평균값 연산을 위한 연산이 추가되어 #의 연산 시간이 걸리게 된다.
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